Завантажити PDF файл.

Формула / Реферат

Спосіб визначення напружень елементів конструкцій, при якому вимірюють деформування індикатора із наступним перерахунком деформацій в напруження за діаграмою статичного розтягу матеріалу, який відрізняється тим, що як індикатор використовують будь-яку площу між чотирма суміжними мітками, нанесеними на поверхню конструкції методом електрохімічного контурного травлення.

Текст

Спосіб визначення напружень елементів конструкцій, при якому вимірюють деформування індикатора із наступним перерахунком деформацій в напруження за діаграмою статичного розтягу матеріалу, який відрізняється тим, що як індикатор використовують будь-яку площу між чотирма суміжними мітками, нанесеними на поверхню конструкції методом електрохімічного контурного травлення. (19) (21) u200812731 (22) 30.10.2008 (24) 10.03.2009 (46) 10.03.2009, Бюл.№ 5, 2009 р. (72) ЯСНІЙ ПЕТРО ВОЛОДИМИРОВИЧ, UA, МАРУЩАК П АВЛО ОРЕСТОВИЧ, UA, КОНОВАЛЕНКО ІГОР ВОЛОДИ МИРОВИЧ, U A, ФОСТИК ВАСИЛЬ БОГДАНОВИЧ, U A, ПИНДУС ЮРІЙ ІВАНОВИЧ, U A (73) ТЕРНОПІЛЬСЬКИЙ ДЕРЖАВНИЙ ТЕХНІЧНИЙ УНІВЕРСИТЕТ ІМЕНІ ІВАН А ПУЛЮЯ, U A 3 39834 e екв за формулою (1): 4 Приклад конкретного виконання способу В таблиці наведено приклад параметрів режимів електрохімічного контурного травлення ділильної сітки на поверхні з сталі 25X1 М1Ф. e екв = e 2 + e 2 (1) x y Напруження контрольованих ділянок за кривою статичного розтягу матеріалу для значень розрахованих деформацій (Фіг). Таблиця Режими електрохімічного контурного травленная зразка з сталі 25Х1М1Ф Марка матеріалу 25Х1М1Ф ли. Площа робочої ділянки зразка, дм 2 0,1* Режим травлення Час протікання Температура реалізації струму, хв процесу, °С 2 70 Густина стр уму, А/дм 2 1,54 *- при визначенні площі поверхні зразка площі ділянок захищених лаком-фоторезистом, не враховува Проводили випробування стандартних зразків з досліджуваного матеріалу, побудовано криві статичного розтягу. Під час деформування поверхні досліджуваного зразка фотографували ділянку поверхні при нульовому навантаженні і при навантаженні вище умовної межі текучості даного матеріалу. Після навантажування зразка зусиллям Р визначають деформації контрольованих площ, в взаємно перпендикулярних напрямках та розраховують еквівалентну деформацію за формулою 1. За кривою статичного розтягу стандартних матері Комп’ютерна в ерстка А. Крулевський алу визначали напруження, що відповідають виявленій еквівалентній деформації. Виготовлення оригіналу ділильної сітки виконували із використанням фотонабірного апарату Scittexdolev4pressVEG750. Експонування фоточутливого покриття проводять ртутно-кварцевою лампою типу ДРТ-240. Таким чином, запропонований спосіб дає можливість підвищити точність визначення високотемпературних умов. Підписне Тираж 28 прим. Міністерство осв іт и і науки України Держав ний департамент інтелектуальної в ласності, вул. Урицького, 45, м. Київ , МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислов ої в ласності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601

Дивитися

Додаткова інформація

Назва патенту англійською

Method for determination of stresses in elements of constructions

Автори англійською

Yasnii Petro Volodymyrovych, Maruschak Pavlo Orestovych, Konovalenko Ihor Volodymyrovych, Fostik Vasyl Bohdanovych, Pyndus Yurii Ivanovych

Назва патенту російською

Способ определения напряжений элементов конструкций

Автори російською

Ясний Петр Владимирович, Марущак Павел Орестович, Коноваленко Игорь Владимирович, Фостик Василий Богданович, Пиндус Юрий Иванович

МПК / Мітки

МПК: G01B 5/30

Мітки: спосіб, напружень, елементів, визначення, конструкцій

Код посилання

<a href="https://ua.patents.su/2-39834-sposib-viznachennya-napruzhen-elementiv-konstrukcijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб визначення напружень елементів конструкцій</a>

Подібні патенти