Завантажити PDF файл.

Формула / Реферат

Спосіб визначення пластичних деформацій матеріалу, при якому на досліджену поверхню наносять вимірювальні бази, після навантажування зразка визначають зміну відстані між відбитками та за отриманими результатами оцінюють деформації, який відрізняється тим, що вимірювальні бази наносять на поверхню зразка шляхом електролітичного контурного травлення у вигляді сітки лунок діаметром не більше 0,02 мм та кроком не більше 0,1 мм.

Текст

Спосіб визначення пластичних деформацій матеріалу, при якому на досліджену поверхню наносять вимірювальні бази, після навантажування зразка визначають зміну відстані між відбитками та за отриманими результатами оцінюють деформації, який відрізняється тим, що вимірювальні бази наносять на поверхню зразка шляхом електролітичного контурного травлення у вигляді сітки лунок діаметром не більше 0,02мм та кроком не більше 0,1мм. (19) (21) u200812718 (22) 30.10.2008 (24) 25.03.2009 (46) 25.03.2009, Бюл.№ 6, 2009 р. (72) ЯСНІЙ ПЕТРО ВОЛОДИМИРОВИЧ, UA, МАРУЩАК ПАВЛО ОРЕСТОВИЧ, UA, ФОСТИК ВАСИЛЬ БОГДАНОВИЧ, UA, ПИНДУС ЮРІЙ ІВАНОВИЧ, UA (73) ТЕРНОПІЛЬСЬКИЙ ДЕРЖАВНИЙ ТЕХНІЧНИЙ УНІВЕРСИТЕТ ІМЕНІ ІВАНА ПУЛЮЯ, UA 3 40143 В таблиці наведено приклад параметрів режимів електрохімічного контурного травлення ді 4 лильної сітки на поверхні з сталі 25Х1М1Ф. Таблиця Режими електрохімічного контурного травленная зразка з сталі 25Х1М1Ф Марка матеріалу Площа робочої ділянки зразка, дм2 25Х1М1Ф 0,1* Режим травлення Густина струму, /дм Час протікання струму, хв Температура реалізації процесу, °С 1,54 2 70 2 Проводили випробування стандартних зразків з досліджуваного матеріалу. Фотографували ділянку поверхні матеріалу при нульовому навантаженні і при навантаженні зусиллям Р, вище умовної межі текучості даного матеріалу. Проводили вимірювання баз між нанесеними лунками. Середнє значення деформації на базі вимірювань 0,1 мм визначали за формулою: n å eij (1) e j = i=1 , n де n - кількість баз лунок для зразків одної серії; n=k´m´(s-1) де k - кількість зразків в серії; m - кількість рядів лунок; s - кількість лунок в ряді. Комп’ютерна верстка Н. Лисенко Відносну деформацію баз визначали за формулою: eij = lij - l0 l0 ´ 100%, (2) де l0 - відстань між суміжними лунками до деформування зразка; lij - відстань між суміжними лунками після деформування; Виготовлення оригіналу ділильної сітки виконували із використанням фотонабірного апарату Scittexdolev4pressVEG750. Експонування фоточутливого покриття проводять ртутно-кварцевою лампою типу ДРТ-240. Таким чином, запропонований спосіб дає можливість більш точно визначати пластичні деформації матеріалу без урахування впливу попередньої розмітки. Підписне Тираж 28 прим. Міністерство освіти і науки України Державний департамент інтелектуальної власності, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601

Дивитися

Додаткова інформація

Назва патенту англійською

Method for determination of plastic deformations of material

Автори англійською

Yasnii Petro Volodymyrovych, Maruschak Pavlo Orestovych, Fostik Vasyl Bohdanovych, Pyndus Yurii Ivanovych

Назва патенту російською

Способ определения пластических деформаций материала

Автори російською

Ясний Петр Владимирович, Марущак Павел Орестович, Фостик Василий Богданович, Пиндус Юрий Иванович

МПК / Мітки

МПК: G01B 5/30

Мітки: пластичних, спосіб, деформацій, визначення, матеріалу

Код посилання

<a href="https://ua.patents.su/2-40143-sposib-viznachennya-plastichnikh-deformacijj-materialu.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб визначення пластичних деформацій матеріалу</a>

Подібні патенти