Спосіб визначення якісних характеристик матеріалу
Номер патенту: 14183
Опубліковано: 15.05.2006
Автори: Большаков Володимир Іванович, Василенко Тетяна Сергіївна, Дубров Юрій Ісайович, Волчук Володимир Миколайович
Формула / Реферат
Спосіб визначення якісних характеристик матеріалу шляхом ідентифікації зображення його мікроструктури, який відрізняється тим, що в процесі ідентифікації зображення здійснюють зіставлення структурних складових з якісними характеристиками матеріалу за топологічними ознаками.
Текст
Спосіб визначення якісних характеристик матеріалу шляхом ідентифікації зображення його мікроструктури, який відрізняється тим, що в процесі ідентифікації зображення здійснюють зіставлення структурних складових з якісними характеристиками матеріалу за топологічними ознаками. (19) (21) u200508690 (22) 12.09.2005 (24) 15.05.2006 (46) 15.05.2006, Бюл. № 5, 2006 р. (72) Большаков Володимир Іванович, Дубров Юрій Ісайович, Василенко Тетяна Сергіївна, Волчук Володимир Миколайович (73) ПРИДНІПРОВСЬКА ДЕРЖАВНА АКАДЕМІЯ БУДІВНИЦТВА І АРХІТЕКТУРИ, Большаков Воло 3 14183 4 татів з механічними властивостями, постійне походять на блок сканування поверхні (блок 3), потім повнення бази даних еталонних структур. передаються в блок обробки результатів (блок 4), Означена задача вирішується тим, що в спокуди одночасно передається інформація з еталонсобі визначення якісних характеристик матеріалу, ної бази даних (блок 5). Блок сканування поверхні який включає розпізнавання зображення його мік(блок 3) здійснює механічні переміщення голівки, роструктури, процес ідентифікації зображення, на якій розміщені крапкове джерело світла і фотозгідно з корисною моделлю, здійснюють шляхом датчик. Сигнал з голівки надходить на блок обробспівставлення структурних складових з якісними ки результатів (блок 4), що підключений до блоку характеристиками матеріалу за топологічними відображення результатів розпізнавання (блок 6). ознаками. Спочатку відбувається порядкове скаЗапропонований спосіб реалізують таким чинування окремого рядка зображення голівкою зчином: тування, з розміщеними на ній крапковим джереБлок керування виробляє і передає сигнали лом світла і фотодатчиком. Світло від джерела керування на блок сканування поверхні, що здійсвідбивається з поверхні зображення, при цьому нює переміщення голівки в горизонтальному і вердля темних ділянок значна частина світловоготикальному напрямках. Лічений сигнал з голівки у потоку поглинається. Фотодатчик, набудований на вигляді сканованого зображення надходить на визначений поріг потужності світлового потоку, блок обробки результатів, де проходить фільтравидає значення логічного нуля для світлих ділянок цію. Розпізнавання образа починається з того, що і логічної одиниці для темних [3]. блок обробки результатів починає наступну опеСканований мікрофотознімок структури прохорацію: на отримане зображення по черзі наклададить фільтрацію зображення від сторонніх "шумоються еталонні структури у виді масок. Найбільш вих" елементів - темних плям, груп пікселей, ляпок близька еталонна структура вибирається як кінцеі т.д. Після цієї операції підготовлене зображення вий результат розпізнавання. Процес цей можна ідентифікується за допомогою еталонної бази даповторювати до отримання прийнятного результаних. ту. Потім проводиться розрахунок набору парамеЗапропонований спосіб визначення якісних трів ідентифікованої структури, і дані надходять на характеристик матеріалу має переваги в порівнянблок відображення результатів розпізнавання. ні з способом визначення фрактальної розмірності Підсумком процесу розпізнавання є кінцева струкзображення, а також з іншими відомими методами. тура матеріалу з заздалегідь відомим набором Структурна схема пристрою для реалізації дамеханічних чи інших властивостей. ного способу визначення якісних характеристик Результати розпізнавання структури матеріалу матеріалу приведена на фіг. з визначенням його якісних характеристик на приСхема складається з блоку джерела струму кладі сталі 16Г2АФ приведені в таблиці. (блок 1). Сигнали з блоку керування (блок 2) надТаблиця Назва структури Мікроструктура Розмір, 10-6 м Термічна обро- Охолоджувальне бка середовище ТемпераМежа Відносне Відносне Межа плинтура від- міцності, видов- звуження, ності, МПа МПа ження, % % пуску, С Бейнітомартенситна структура Гартування з Товщина окремого нарейок гріву в воді без 11,2-22,4 відпуску Вода 921 888 13,1 50,3 Бейнітна структура з ділянками полігонального фериту Гартування з прокатного Товщина нагріву без рейок відпуску (де0,1 0,3 формація 16,7%) Вода 1318 1103 6,9 30,2 Бейнітна структура з ділянками полігонального фериту Гартування зпрокатного Товщина нагріву без рейок відпуску (де0,1 0,3 формація 34,9 %) Вода 1300 1140 5,2 43 Бейнітомартенситна структура Гартування з Товщина окремого нарейок - гріву і відпуску 11,2-22,4 1 год при 600°С Вода 600-630 811 744 13,4 56,7 Рейковий тенсит Гартування з прокатного Товщина нагріву і відпурейок ску 600°С (де5 6 формація 16,7 %) Вода 600-630 815 778 16,5 53,6 мар 5 14183 6 Таким чином, запропонований спосіб забезпропонований спосіб може бути використаний в печує: апаратній реалізації, у задачах розпізнавання - високу точність розпізнавання образів; образів і обробки зображень. - можливість простої апаратної реалізації; Використана інформація - кореляцію отриманих результатів з механіч1. Богомолова Н.А. Практическая металлогними властивостями, що веде до скорочення рафия. - М.: Высшая школа, 1987. – 240 с. часових витрат на проведення іспитів; 2. http://www.microstructure.rn/msetting. - постійне поповнення бази даних еталонних 3. Пат. 51439А України, G06K9/00. Спосіб виструктур. значення фрактальної розмірності зображення Підводячи підсумок усьому вищесказаному, /B.I. Большаков, Ю.І. Дубров, Ф.В. Криулін, В.М. можна вважати, що задача визначення якісних Волчук. - Зареєстр. 02.04.02: Опубл. 15.11.02, характеристик матеріалу успішно вирішена. ЗаБюл. № 11. Комп’ютерна верстка Г. Паяльніков Підписне Тираж 26 прим. Міністерство освіти і науки України Державний департамент інтелектуальної власності, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601
ДивитисяДодаткова інформація
Назва патенту англійськоюMethod for determining qualitative characteristics of material
Автори англійськоюBolshakov Volodymyr Ivanovych
Назва патенту російськоюСпособ определения качественных характеристик материала
Автори російськоюБольшаков Владимир Иванович
МПК / Мітки
Мітки: спосіб, матеріалу, визначення, якісних, характеристик
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/3-14183-sposib-viznachennya-yakisnikh-kharakteristik-materialu.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб визначення якісних характеристик матеріалу</a>
Попередній патент: Полімерна композиція для склеювання сталі зі склом
Наступний патент: Коронковий зубний протез
Випадковий патент: Спосіб вимірювання в'язкості однорідних рідин безелектродним методом з використанням електронної ваги