Патенти з міткою «безеталонної»

Номер патенту: 80236

Опубліковано: 27.08.2007

Автор: Мозговой Олександр Всеволодович

МПК: G01M 7/00, G01N 29/00, G01N 27/60 ...

Мітки: дефектоскопії, безеталонної, спосіб

Формула / Реферат:

1. Спосіб безеталонної дефектоскопії, який включає вибір порогового рівня дефектоскопії в контрольованому виробі шляхом усереднення значень вибраного інформативного параметра по відповідних зонах об'єкта контролю, який відрізняється тим, що контрольований виріб поділяють на окремі ділянки, і на кожну ділянку контрольованого виробу діють електромагнітним випромінюванням, довжину хвилі якого вибирають в залежності від матеріалу досліджуваного...