Патенти з міткою «безеталонного»
Спосіб безеталонного виявлення місць розташування дефектів в металевих деталях, що містять дефекти
Номер патенту: 85809
Опубліковано: 25.02.2009
Автори: Клименко Сергій Михайлович, Малайчук Валентин Павлович, Мозговой Олександр Всеволодович
МПК: G01N 29/00, G01N 29/04
Мітки: металевих, безеталонного, розташування, містять, дефекти, дефектів, деталях, місць, виявлення, спосіб
Формула / Реферат:
1. Спосіб безеталонного виявлення місць розташування дефектів в металевих деталях, що містять дефекти, котрий включає зондування металевої деталі імпульсами ультразвукових коливань та приймання відбитих сигналів ультразвукових коливань від дна чи будь-якої грані деталі та від дефекту, і порівняння амплітуд прийнятих відбитих сигналів ультразвукових коливань від дна чи будь-якої грані деталі та від дефекту, який відрізняється тим, що...
Спосіб високочутливого кількісного безеталонного елементного аналізу твердих тіл
Номер патенту: 42395
Опубліковано: 15.10.2001
Автори: Дробнич Володимир Григорович, Шароді Ірина Степанівна, Поп Степан Степанович, Охріменко Сергій Володимирович
МПК: G01N 23/00
Мітки: безеталонного, високочутливого, спосіб, елементного, тіл, аналізу, кількісного, твердих
Формула / Реферат:
Спосіб високочутливого кількісного безеталонного елементного аналізу твердих тіл, який включає іонне бомбардування у вакуумі поверхні досліджуваного матеріалу, та переведення розпорошених в основному стані "0" атомів досліджуваною домішки у збуджений стан "і" шляхом їх однофотонного резонансного збудження випромінюванням перестроюваного лазера неперервної дії з достатньо широкою лінією генерації, яка перекриває...