Патенти з міткою «дефектометрії»

Номер патенту: 98242

Опубліковано: 27.04.2015

Автор: Дейнека Ростислав Михайлович

МПК: G01L 1/12

Мітки: матеріалів, спосіб, дефектометрії, локальної, феромагнітних

Формула / Реферат:

Спосіб локальної дефектометрії феромагнітних матеріалів, який полягає в намагнічуванні об'єкта для виявлення та оцінки дефектів, який відрізняється тим, що досліджувану ділянку об'єкта, намагнічування якої здійснюють постійним магнітним полем, сканують індуктивним давачем з магніточутливим осердям, підмагнічуваним виступаючими лініями поля розсіювання, і на послідовно приєднаному до давача резисторі вимірюють напругу, за величиною якої і...

Номер патенту: 46497

Опубліковано: 25.12.2009

Автор: Учанін Валентин Миколайович

МПК: G01N 27/90

Мітки: спосіб, електропровідних, дефектометрії, вихрострумової, виробів

Формула / Реферат:

1. Спосіб вихрострумової дефектометрії електропровідних виробів, при якому за допомогою змінного електромагнітного поля обмотки збудження вихрострумового перетворювача створюють в контрольованому об'єкті вихрові струми, сканують поверхню контрольованого виробу вихрострумовим перетворювачем і визначають за допомогою чутливого елемента вихрострумового перетворювача годограф сигналу від дефекту, по годографу сигналу від дефекту визначають...