Патенти з міткою «кріостат-екран»
Кріостат-екран для вимірювань магнітної сприйнятливості матеріалів у сильних магнітних полях
Номер патенту: 96233
Опубліковано: 10.10.2011
Автори: Ляхно Валерій Юрійович, Будник Микола Миколайович, Шнирков Володимир Іванович
МПК: F17C 3/00, F17C 13/00, G01N 27/72 ...
Мітки: сприйнятливості, магнітної, полях, кріостат-екран, вимірювань, магнітних, сильних, матеріалів
Формула / Реферат:
1. Кріостат-екран для вимірювань магнітної сприйнятливості матеріалів у сильних магнітних полях до 10 Тесла, призначений для охолодження до Т=4,2 К і екранування від зовнішніх електромагнітних перешкод (ЕМП) зразків матеріалів при виконанні надчутливих вимірювань за допомогою СКВІДів з метою вивчення структурних властивостей зазначених матеріалів, тобто магнітної структуро- чи дефектоскопії, який являє собою посудину Дюара і включає металеву...
Кріостат-екран для вимірювань магнітної сприйнятливості матеріалів у сильних магнітних полях
Номер патенту: 58271
Опубліковано: 11.04.2011
Автори: Шнирков Володимир Іванович, Ляхно Валерій Юрійович, Будник Микола Миколайович
МПК: F17C 13/00, G01N 27/72, F17C 3/00 ...
Мітки: сприйнятливості, сильних, магнітних, кріостат-екран, матеріалів, магнітної, вимірювань, полях
Формула / Реферат:
1. Кріостат-екран для вимірювань магнітної сприйнятливості матеріалів у сильних магнітних полях до 10 Тесла, призначений для охолодження до Т=4,2 К і екранування від зовнішніх електромагнітних перешкод (ЕМП) зразків матеріалів при виконанні надчутливих вимірювань за допомогою СКВІДів для вивчення структурних властивостей зазначених матеріалів, тобто магнітної структуро- чи дефектоскопії, який являє собою посудину Дюара і включає металеву...