Патенти з міткою «lm-метод»

Спосіб оцінки деградації матеріалу внаслідок накопичення пошкоджень в процесі напрацювання, “lm-метод твердості”

Завантаження...

Номер патенту: 52107

Опубліковано: 16.12.2002

Автори: Лебедєв Анатолій Олексійович, Музика Микола Романович, Волчек Наталя Леонідівна

МПК: G01N 3/00, G01N 3/40

Мітки: спосіб, lm-метод, твердості, пошкоджень, внаслідок, напрацювання, оцінки, накопичення, деградації, матеріалу, процесі

Формула / Реферат:

1. Спосіб оцінки деградації матеріалу внаслідок накопичення пошкоджень в процесі напрацювання, що містить операції вимірювання твердості матеріалу, визначення його деградації шляхом порівняння характеристик твердості на різних стадіях напрацювання, який відрізняється тим, що оцінку деградації матеріалу проводять за параметрами розсіювання значень твердості.2. Спосіб за п. 1, який відрізняється тим, що як параметр розсіювання значень...