Патенти з міткою «моноклінальних»

Номер патенту: 70702

Опубліковано: 15.10.2004

Автори: Бардіна Олена Олександрівна, Бардін Олександр Олексійович

МПК: G01V 9/00

Мітки: аномалій, моноклінальних, схилах, вуглеводнів, покладів, локалізації, спосіб, пошуках, структурних

Формула / Реферат:

Спосіб локалізації структурних аномалій при пошуках покладів вуглеводнів на моноклінальних схилах на основі аналізу математичних моделей геологічних карт, який відрізняється тим, що виділення і локалізацію меж структурних аномалій здійснюють безпосередньо на структурній основі, шляхом оконтурювання меж структурних аномалій проекціями векторів, що характеризують кути падіння пластів, з одночасним проеціюванням на первинний структурний план...