Патенти з міткою «структуроскопа»

Номер патенту: 77319

Опубліковано: 11.02.2013

Автори: Григоров Отто Володимирович, Хорло Микола Федорович, Попов Владислав Андрійович, Окунь Антон Олександрович, Губський Сергій Олександрович

МПК: G01N 27/00

Мітки: калібрування, експериментальній, структуроскопа, зразок

Формула / Реферат:

Експериментальний зразок для калібрування структуроскопа, виконаний зі сталі або іншого феромагнетику, виготовляється шляхом фрезерування по контуру, який відрізняється тим, що має форму пластини змінного перерізу у вигляді прямокутних або квадратних ступенів та піддається термообробці шляхом нагрівання до температури 420-450 °C, витримці протягом однієї години та нормалізації при температурі навколишнього середовища.