Патенти з міткою «віддалемірів»

Оптоволоконно-інтерференційний лінійний базис для контролю точності лазерних віддалемірів

Завантаження...

Номер патенту: 115192

Опубліковано: 10.04.2017

Автор: Хомушко Дмитро Валерійович

МПК: G01C 3/30, H01S 3/00, G01B 9/02 ...

Мітки: базис, лазерних, точності, віддалемірів, лінійний, оптоволоконно-інтерференційний, контролю

Формула / Реферат:

Оптоволоконно-інтерференційний лінійний базис для контролю точності лазерних віддалемірів, що містить послідовно встановлені на стабільній основі: штатне місце для встановлення контрольованого лазерного віддалеміра, рухомий оптичний блок, встановлений з можливістю переміщення вздовж напрямку вимірювання, на якому закріплені два відбивачі і лазерний інтерферометр, при цьому оптична система контрольованого лазерного віддалеміра і перший...