Патенти з міткою «віддалемірів»
Оптоволоконно-інтерференційний лінійний базис для контролю точності лазерних віддалемірів
Номер патенту: 115192
Опубліковано: 10.04.2017
Автор: Хомушко Дмитро Валерійович
МПК: G01C 3/30, H01S 3/00, G01B 9/02 ...
Мітки: базис, лазерних, точності, віддалемірів, лінійний, оптоволоконно-інтерференційний, контролю
Формула / Реферат:
Оптоволоконно-інтерференційний лінійний базис для контролю точності лазерних віддалемірів, що містить послідовно встановлені на стабільній основі: штатне місце для встановлення контрольованого лазерного віддалеміра, рухомий оптичний блок, встановлений з можливістю переміщення вздовж напрямку вимірювання, на якому закріплені два відбивачі і лазерний інтерферометр, при цьому оптична система контрольованого лазерного віддалеміра і перший...