Патенти з міткою «відлуння»
Еталонний блок для визначення основних параметрів ультразвукового контролю методом відлуння виробів з циліндричною поверхнею
Номер патенту: 62284
Опубліковано: 15.12.2003
Автори: Саприкін Сергій Олексійович, Волков Юрій Олександрович, Колбін Ігор Борисович
МПК: G01N 29/00
Мітки: методом, виробів, визначення, поверхнею, блок, параметрів, контролю, еталонний, основних, циліндричною, відлуння, ультразвукового
Формула / Реферат:
1. Еталонний блок для визначення основних параметрів ультразвукового контролю методом відлуння виробів з циліндричною поверхнею, що має циліндричне тіло, виготовлене з матеріалу, акустичні властивості якого відповідають властивостям контрольованого матеріалу, а також виготовлену з боку першої його основи похилу грань, нахилену під певним кутом до тієї твірної його циліндричної поверхні, яка лежить у площині симетрії цієї грані, з виготовленим...