Манжура Єлена Петрівна
Спосіб диференційної діагностики диспластичних станів епітелію шийки матки
Номер патенту: 5598
Опубліковано: 15.03.2005
Автори: Манжура Єлена Петрівна, Іоффе Світлана Євгенівна, Грачья Левонович Джулакян, Коханевич Євгенія Вікторовна, Суханова Ауріка Альбертівна
МПК: G01N 33/483, G01N 21/64
Мітки: шийки, станів, диспластичних, диференційної, спосіб, епітелію, діагностики, матки
Формула / Реферат:
Спосіб диференційної діагностики диспластичних станів епітелію шийки матки, що включає спектральний аналіз епітелію шийки матки, при якому визначають співвідношення інтенсивності спектра здорової тканини й інтенсивності спектра патологічно зміненої тканини k, який відрізняється тим, що, якщо мати на увазі, що інтенсивність другого піка завжди перевищує інтенсивність першого піка, при значеннях k від 2 до 5 діагностують тяжку дисплазію...