Насєка Віктор Миколайович

Вставка кріостата для електромагнітооптичних досліджень

Завантаження...

Номер патенту: 120401

Опубліковано: 25.10.2017

Автори: Ніколенко Андрій Сергійович, Маслов Валентин Олексійович, Сафронов Віталій Вікторович, Селиванов Олександр Вікторович, Стрельчук Віктор Васильович, Солонецький Анатолій Гнатович, Коновал Віктор Михайлович, Насєка Віктор Миколайович, Жарков Іван Павлович

МПК: B25J 9/10, G01N 21/21

Мітки: вставка, електромагнітооптичних, досліджень, кріостата

Формула / Реферат:

1. Вставка кріостата для електромагнітооптичних досліджень, що забезпечена механізмом для зміни величини магнітного поля в області зразка, який виконано як механізм просторового паралельного розведення магнітів, що складається із штока, закріпленого у втулці з можливістю обертання, шестірні, яка закріплена на нижній частині штока і кінематично зв'язана із зубчатим колесом, яке закріплено на валу, що обертається у втулці, встановленій на...

Універсальна вставка кріостата для спектрофотометричних та електрооптичних досліджень

Завантаження...

Номер патенту: 120275

Опубліковано: 25.10.2017

Автори: Жарков Іван Павлович, Солонецький Анатолій Гнатович, Ніколенко Андрій Сергійович, Стрельчук Віктор Васильович, Сафронов Віталій Вікторович, Ходунов Володимир Олександрович, Селиванов Олександр Вікторович, Насєка Віктор Миколайович, Коновал Віктор Михайлович

МПК: G01J 3/02, G01N 25/00

Мітки: електрооптичних, спектрофотометричних, кріостата, вставка, універсальна, досліджень

Формула / Реферат:

1. Універсальна вставка кріостата для спектрофотометричних та електрооптичних досліджень зразків матеріалів, в якій декілька ідентичних кювет встановлені поруч по вертикалі, для зміни зразків встановлені виконавчий механізм для переміщення кювет у вертикальному напрямі та механізм їх обертання, яка відрізняється тим, що механізм переміщення тримача підкладок з кількома кюветами для досліджуваних зразків на кілька фіксованих положень по...

Оптичний спосіб визначення розподілу температури у функціональних елементах приладних ііі-n структур в робочих режимах

Завантаження...

Номер патенту: 88721

Опубліковано: 25.03.2014

Автори: Романюк Артем Сергійович, Авраменко Катерина Андріївна, Стрельчук Віктор Васильович, Бойко Микола Іванович, Коломис Олександр Федорович, Насєка Віктор Миколайович, Насєка Юрій Миколайович, Ніколенко Андрій Сергійович

МПК: G01K 11/32

Мітки: розподілу, структур, функціональних, режимах, елементах, визначення, оптичний, ііі-n, приладних, робочих, температури, спосіб

Формула / Реферат:

Оптичний спосіб визначення розподілу температури у функціональних елементах приладних III-N структур в робочих режимах, який відрізняється тим, що досліджуваний зразок з під'єднаними контактами розміщується на моторизованому столику мікроскопа, який оснащено USB-камерою та підводкою контактних проводів, через об'єктив мікроскопа проводиться відбір ділянки для дослідження, програмно визначаються її межі та проводиться збудження коливних смуг...