Шелест Ігор Володимирович
Спосіб керування технологічним процесом
Номер патенту: 64469
Опубліковано: 10.11.2011
Автори: Дубовик Володимир Григорович, Шелест Ігор Володимирович, Лебедєв Лев Миколайович
МПК: B02C 25/00
Мітки: технологічним, спосіб, керування, процесом
Формула / Реферат:
Спосіб управління технологічним процесом, що містить формування тривимірних часових рядів сигналів технологічної інформації, використання їх перетинів для вибору рівня регульованої змінної технологічного процесу, який відрізняється тим, що формують багатошарове інформаційне поле сигналу технологічної інформації з шарів характеристичних ознак і кортежів їх похідних за ортогональними осями і діагоналями, роблять перетини багатошарового...
Пристрій захисту асинхронного електродвигуна
Номер патенту: 61832
Опубліковано: 25.07.2011
Автори: Шелест Ігор Володимирович, Дубовик Володимир Григорович, Лебедєв Лев Миколайович
МПК: H02H 7/09
Мітки: електродвигуна, захисту, пристрій, асинхронного
Формула / Реферат:
Пристрій захисту асинхронного електродвигуна, що містить блок датчиків струму з датчиками, сполученими між собою послідовно, один з виводів блока датчиків струму сполучений з шиною ЗАГАЛЬНИЙ пристрою, а другий - з блоком контролю фазового зміщення, другий вхід якого сполучений з джерелом постійної вхідної дії, ключовий елемент в ланцюзі живлення котушки пускача електродвигуна, який сполучений з блоком живлення, друге та третє джерела...
Пасивний дозиметр для вимірювання вмісту оксиду азоту в атмосферному повітрі
Номер патенту: 36876
Опубліковано: 16.04.2001
Автор: Шелест Ігор Володимирович
МПК: G01N 30/00, G01N 21/17
Мітки: вмісту, азоту, повітрі, вимірювання, оксиду, дозиметр, атмосферному, пасивний
Текст:
...визначити, в яких саме межах знаходиться концентрація оксиду азоту в атмосферному повітрі в тому випадку, якщо гранично допустима концентрація не перевищена. Пристрій модифікованого пасивного дозиметра, що пропонується, ілюструється фіг.1 та фіг.2. Пасивний дозиметр містить чутливий елемент1 у вигляді набору тонких плівок ХСН з товщиною від 0,5 мкм до 1,5 мкм, нанесених у високому вакуумі ~ 10-7 Па на поверхні плоских прозорих скляних...