Шепурев Микола Миколайович

Номер патенту: 53001

Опубліковано: 16.01.2006

Автори: Бендарик Олег Борисович, Бондаренко Олександр Євгеньович, Шепурев Микола Миколайович, Дзюрило Анатолій Анатолійович

МПК: G01C 11/00, F01D 9/02

Мітки: визначення, спосіб, лопатного, перерізу, прохідного, апарата, осьової, турбомашині, площі

Формула / Реферат:

Спосіб лікування хворих з агресивними та резистентними лімфомами шляхом хіміотерапії, яка містить циклофосфан 750 мг/м 2 внутрішньовенне 1-й день, вінкристин 2 мг внутрішньовенне 1-й день, доксорубіцин 60 мг/м 2 внутрішньовенна інфузія в 200 мл фізіологічного розчину 1-й день, преднізолон 60 мг/м2 усередину 1-5 день, який відрізняється тим, що призначають ліпосомальну форму доксорубіцину препарат «Ліподокс», курси повторюють кожного 21...

Номер патенту: 52992

Опубліковано: 15.01.2003

Автори: Шепурев Микола Миколайович, Бондаренко Олександр Євгеньович, Бендарик Олег Борисович, Дзюрило Анатолій Анатолійович

МПК: G01C 11/00

Мітки: контролю, зміни, об'єкта, параметрів, спосіб

Формула / Реферат:

1. Спосіб контролю зміни параметрів об'єкта порівнянням зображень об'єкта перед та після зміни параметрів, який відрізняється тим, що отримують зображення проекції об'єкта перед та після імовірної зміни параметрів на цифровій світлочутливій матриці за умови постійних координат і кутів орієнтації знімальної камери, суміщують ці зображення проекції і визначають різницю координат (х, у) проекції характерного елемента об'єкта, а саме точки,...

Номер патенту: 52053

Опубліковано: 16.12.2002

Автори: Бондаренко Олександр Євгеньович, Дзюрило Анатолій Анатолійович, Шепурев Микола Миколайович, Бендарик Олег Борисович

МПК: G01C 11/00

Мітки: фотограмметрії, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб фотограмметрії, що передбачає отримання двох зображень об'єкта і введення параметрів характерних точок зображень об'єкта в електронно – обчислювальну машину (ЕОМ) для розрахунку параметрів об'єкта, який відрізняється тим, що отримують цифрові фотографічні зображення об'єкта на цифровій фотоприймальній матриці, параметри елементів якої вводять безпосередньо в ЕОМ.