Смірнова Ганна Вадимівна

Номер патенту: 110875

Опубліковано: 25.10.2016

Автори: Смірнова Ганна Вадимівна, Смирнов Вадим Семенович

МПК: G01N 27/22

Мітки: спосіб, елементного, складу, аналізу, речовин, диелькометричного

Формула / Реферат:

Спосіб діелькометричного аналізу елементного складу речовин, що включає вимірювальний контур, живлення контуру на двох частотах, вимірювання амплітуди напруги на вході контуру та вимірювальному конденсаторі, яке здійснюють при незаповненому конденсаторі, заповненому як зразковою, так і дослідною речовиною та аналіз результатів вимірювань, який відрізняється тим, що як вимірювальний контур використовують послідовне з'єднання котушки...

Номер патенту: 110360

Опубліковано: 10.10.2016

Автори: Смирнов Вадим Семенович, Смірнова Ганна Вадимівна

МПК: G01N 21/39

Мітки: складу, елементного, речовин, спосіб, аналізу

Формула / Реферат:

Спосіб аналізу елементного складу речовин, що включає обробку дослідної речовини лазерним опроміненням, одержання плазми, реєстрацію її спектра та аналіз дослідного складу речовини, який відрізняється тим, що обробку дослідної речовини виконують змінним магнітним полем, одержання електрорушійної сили, визначення залежностей електрорушійної сили від складу зразкової та дослідної речовин, аналіз елементного складу дослідної речовини виконують...