Вакуленко Леонід Ігоревич

Номер патенту: 18369

Опубліковано: 15.11.2006

Автори: Грищенко Микола Миколайович, Пуларія Андрій Луарсабович, Вакуленко Леонід Ігоревич

МПК: G01N 3/40

Мітки: спосіб, полікристалів, неоднорідності, оцінки, структурної

Формула / Реферат:

Спосіб оцінки структурної неоднорідності полікристалів, що включає визначення вигляду співвідношення між напруженням і деформацією для мікрооб'ємів металу, обмежених великокутовими границями, який відрізняється тим, що напруження визначають як відношення навантаження на індентор, у вигляді піраміди, до бокової площини відбитка, а деформацію - як натуральний логарифм відношення текучого значення діагоналі відбитка до мінімального...