Ведула Юрій Степанович

Діодний мікроскоп для неруйнівного аналізу

Завантаження...

Номер патенту: 23087

Опубліковано: 15.11.2000

Автори: Сененко Наталія Борисівна, Ведула Юрій Степанович, Лобурець Анатолій Тимофійович

МПК: H01J 37/26

Мітки: аналізу, мікроскоп, неруйнівного, діодний

Текст:

...магнітним полем при скануванні досліджуваної поверхні, згідно винаходу, катодом є вістря з розташованим близько біля нього прискорюючим електродом-діафрагмою, прискорюючим електродом для створення гальмівного поля є рухома діафрагма біля досліджуваного об'єкту-аноду, а вся конструкція розташована в поздовжньому однорідному магнітному полі з силовими лініями, що проходять від вершини вістря до деякої точки аноду, причому сканування...