Ведула Юрій Степанович
Діодний мікроскоп для неруйнівного аналізу
Номер патенту: 23087
Опубліковано: 15.11.2000
Автори: Сененко Наталія Борисівна, Ведула Юрій Степанович, Лобурець Анатолій Тимофійович
МПК: H01J 37/26
Мітки: аналізу, мікроскоп, неруйнівного, діодний
Текст:
...магнітним полем при скануванні досліджуваної поверхні, згідно винаходу, катодом є вістря з розташованим близько біля нього прискорюючим електродом-діафрагмою, прискорюючим електродом для створення гальмівного поля є рухома діафрагма біля досліджуваного об'єкту-аноду, а вся конструкція розташована в поздовжньому однорідному магнітному полі з силовими лініями, що проходять від вершини вістря до деякої точки аноду, причому сканування...