Патенти з міткою «аналізатором»

Номер патенту: 103932

Опубліковано: 12.01.2016

Автори: Кишко Олексій Анатолійович, Котляров Валерій Павлович

МПК: H01S 3/00, B23K 26/00, H01L 21/00 ...

Мітки: установка, випромінювання, лазерного, лазерна, аналізатором, пучка

Формула / Реферат:

Лазерна установка з аналізатором пучка лазерного випромінювання, яка містить лазер та встановлений за лазером на шляху променя пристрій для аналізу розподілу інтенсивності лазерного випромінювання по перерізу променя з елементами для відбору проб лазерної потужності з окремих точок попереку, яка відрізняється тим, що пристрій для аналізу розподілу інтенсивності складається із втулки з закріпленими на ній по периметру зондами для відведення...

Номер патенту: 103931

Опубліковано: 12.01.2016

Автори: Котляров Валерій Павлович, Сіроштан Андрій Ігорович

МПК: H01S 5/50, B23K 26/00

Мітки: пучка, лазерного, випромінювання, аналізатором, установка, лазерна

Формула / Реферат:

Лазерна технологічна установка, яка містить лазер та встановлені вздовж його оптичної осі один за одним похиле поворотне дзеркало з механізмом переміщення в трьох взаємно перпендикулярних направленнях, фокусуючу лінзу та стіл для розміщення заготівки, яка відрізняється тим, що поворотне дзеркало додатково оснащене ємностями із прозорого матеріалу, частково заповненого контрастною рідиною, які герметично встановлені на його зворотній стороні...

Номер патенту: 59536

Опубліковано: 25.05.2011

Автори: Літовченко Віталій Дмитрович, Приходько Володимир Мусійович, Рисований Олександр Миколайович, Коломійцев Олексій Володимирович, Гоготов Валерій Васильович

МПК: G06F 11/00

Мітки: помилок, локалізації, однократних, сигнатурним, спосіб, аналізатором

Формула / Реферат:

Спосіб локалізації однократних помилок сигнатурним аналізатором, який оснований на використанні двох сигнатур з двох блоків згортки та запису додаткового біта згортки в перший блок згортки в час зміни ділянок послідовності, яка контролюється, а для локалізації помилки використовується лічильник для рахування тактів до моменту порівняння двох сигнатур, який відрізняється тим, що номер однократної помилки визначається за рахунок одержання...

Номер патенту: 56622

Опубліковано: 25.01.2011

Автори: Афончина Наталія Борисівна, Чиж Ігор Генріхович

МПК: A61B 3/10, A61B 3/18

Мітки: аналізатором, аберометр, зон, ізодіоптрійних, ока

Формула / Реферат:

Аберометр з аналізатором ізодіоптрійних зон ока, який містить освітлювальну систему для формування світлової мікроплями на сітківці ока, об'єктив для утворення зображення зіниці ока в площині фотоприймача зображень, а також просторовий фільтр у вигляді непрозорого екрана з мікроотвором, який відрізняється тим, що між об'єктивом та пристроєм реєстрації зображення зіниці ока розташована рухома платформа, на якій встановлено поворотний у...