Спосіб локалізації однократних помилок сигнатурним аналізатором

Спосіб локалізації однократних помилок сигнатурним аналізатором, який оснований на вико 3 59536 станів Н, яка, наприклад, для Px   x 4  x3  1 має вигляд: D1 D2 D3 D4 1 0 0 0 0 1 0 0 0 0 1 0 1 0 0 1 1 1 0 0 0 1 1 0 1 0 1 1 0 1 0 1 1 0 1 0 1 1 0 1 1 1 2 3 4 5 6 7 8 9 0 1 1 0 0 1 1 1 0 1 1 1 1 0 1 1 1 1 1 1 1 1 2 3 4 0 0 0 1 1 5 В цій матриці D1-D4 позначує номери тригерів в регістрі. Крок 4. Обчислюється поточна сигнатура sig вхідної послідовності. Крок 5. Обчислюється синдром помилки, який отримується в результаті додавання поточної сигнатури та еталонної сигнатури: sid  sig  sigет . Крок 6. Виконується порівняння синдрому помилки з матрицею станів сигнатурного аналізатора. Для цього в регістр зсуву зі зворотними зв'язками, обраними згідно з виглядом утворюючого полінома записується початковий стан й виконуються зсуви та їх підрахування до співпадання з синдромом помилки. Кількість таких зсувів дорівнює номеру розряду, в якому відбулася однократна помилка. Наприклад, для вхідної послідовності v(t)=100111 та поліному Px   x 4  x3  1 еталонcт на сигнатура sig =1011. Для помилкової сигнатури sig=0111 необхідно знайти номер спотвореного розряду. При таких сигнатурах синдром помилки sid  1011 0111 1100. Число зсувів початкового стану 1000 до стовпця матриці станів зі змістом 1100 дорівнює 5. Тобто, п'ятий розряд вхідної послідовності є невірним. При пошуку в патентній та науково-технічній літературі не виявлено об'єктів з ознаками, подібними до відмінних ознак технічного рішення, що заявляється, на підставі чого можна зробити висновок про відповідність його критерію "суттєві відмінності". Спосіб, що пропонується, може бути реалізований, наприклад, за допомогою пристрою, структурна схема якого наведена на фіг. 1. Пристрій включає: блок 1 одноканального сигнатурного аналізатору, блок пристрою управління 2, блок порівняння 3, регістр 4, лічильник зсувів 5, синхровхід 6, вхід 7 даних, вхід 8 «Старт», вхід 9 «Стоп», вхід 10 «Аналіз», вхід 11 m-розрядної сигнатури 4 cт еталону «sig », вихід 12 даних, виходи 13 та 14 управління режимами, вихід 15 управління блоком порівняння, вихід 16 для передачі синдрому помилки, вихід 17 регістра 4 для передачі синдрома помилки в режимі аналізу при порівнянні зі поточними стовпцями матриці станів з блока 1, вихід 18 для зупинки лічильника 5, вихід 19 поточної сигнатури «sig», вихід 20 блоку локалізації помилки. Пристрій працює наступним чином. Контроль послідовності бітів починається з приходом на вхід 8 сигналу «Старт» - імпульсу рівня логічної «1». При цьому на виходи 13 та 14 блока 2 видається комбінація логічних сигналів «10», що дозволяє виконати початок прийому даних з виходу 12 блока 2, який синхронізовано сигналами на вході 6. Процес закінчення стиску даних завершується при подачі сигнала «Стоп» на вході 9. При цьому, на виходах 13 та 14 встановлюється логічна комбінація «00», чим завершується процес прийому та стиску даних. Для аналізу помилкового розряду подаються на вхід 10 сигнал «Аналіз», а па вхід 11 - еталонна cт сигнатура «sig ». За фронтом сигналу «Аналіз» виконується в виходу 16 запис синдрому помилки в регістр 4, на виходах 13 та 14 встановлюється логічна комбінація «01», за якою виконується запис до блока 1 початкового стану 10...0, який є першим станом матриці станів сигнатурного аналізатора. Після спаду сигналу «Аналіз» на виходах 13 та 14 встановлюється логічна комбінація «10», дані для стиску з виходу 12 до блоку 1 не поступають, а блок 1 за синхросигналами по входу 6 починає генерувати матрицю станів. Стани матриці станів з блока 1 порівнюються в блоці 3 з синдромом помилки з виходу 17. Кількість зсувів в блоці 1 за синхросигналами по входу 6 до співпадання з синдромом помилки по входу 17 підраховується в лічильнику 5, а при порівнянні вироблюється сигнал з виходу 18 для зупинки лічильника 5. На виході 20 встановлюється номер помилкового розряду. Джерела інформації: 1. Ярмолик В.Н. Контроль и диагностика цифровых узлов ЭВМ. - Мн.: Наука и техника, 1988. 240 с. 2. Авторское свидетельство СССР № 1481769, кл. G06F 11/00, 1989. (прототип). 5 Комп’ютерна верстка А. Крулевський 59536 6 Підписне Тираж 24 прим. Міністерство освіти і науки України Державний департамент інтелектуальної власності, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601