Патенти з міткою «кристалізованих»
Спосіб і пристрій для вимірювання товщини шару частково кристалізованих розплавів
Номер патенту: 100198
Опубліковано: 26.11.2012
Автори: Бауш Йорг, Фогль Норберт
МПК: B22D 11/16, G01B 7/06
Мітки: шару, пристрій, частково, спосіб, вимірювання, розплавів, товщини, кристалізованих
Формула / Реферат:
1. Спосіб вимірювання товщини шару частково кристалізованого розплаву на стрічковому транспортері за допомогою магнітних полів при безперервному відливанні штаби, причому магнітне поле формують на одній стороні частково кристалізованого розплаву (2) за допомогою електромагнітних котушок (1) мішалки так, що магнітне поле проникає через частково кристалізований розплав (2), при цьому на іншій стороні частково кристалізованого розплаву (2)...