Патенти з міткою «мікрокристалах»

Номер патенту: 20659

Опубліковано: 15.02.2007

Автори: Бережинський Леонід Йосипович, Сердега Борис Кирилович, Григор'єв Олег Миколайович, Бережинський Ігор Леонідович

МПК: G01N 1/28, G01N 21/21

Мітки: мікрокристалах, пристрій, напружень, вимірювання, внутрішніх

Формула / Реферат:

Пристрій для вимірювання внутрішніх напружень в мікрокристалах, що містить перше джерело поляризованого світла, світлоподільник, компенсатор, мікрооб'єктив, еталон, модулятор, аналізатор, фотодетектор та оптичні елементи спостереження за досліджуваною поверхнею, який відрізняється тим, що додатково містить мікрооб'єктив для спостереження об’єктів у відбитому світлі і має друге джерело світла та оптично пов'язане з ним дзеркало з отвором для...