Сердега Борис Кирилович
Спосіб контролю розподілу температурного поля в оптично-прозорих деталях
Номер патенту: 108732
Опубліковано: 25.05.2015
Автори: Матяш Ігор Євгенович, Мінайлова Ірина Анатоліївна, Сердега Борис Кирилович, Маслов Володимир Петрович, Качур Наталія Володимирівна, Венгер Євген Федорович
МПК: G01N 21/21, G01J 4/04
Мітки: температурного, спосіб, контролю, оптично-прозорих, деталях, розподілу, поля
Формула / Реферат:
Спосіб контролю розподілу температурного поля в оптично-прозорих деталях, в якому дослідний зразок нагрівають і вимірюють розподіл температури послідовно в точках матриці координат топографії поверхні зразка, який відрізняється тим, що полірований зразок досліджуваного матеріалу попередньо відпалюють для зняття внутрішніх механічних напружень, а після відпалу і додаткового нагріву з одного боку з градієнтним розподілом температурного поля в...
Пристрій реєстрації зміни показника заломлення газових та рідких середовищ
Номер патенту: 86921
Опубліковано: 10.01.2014
Автори: Сердега Борис Кирилович, Маслов Володимир Петрович, Ушенін Юрій Валентинович, Прохорович Анатолій Вікторович, Матяш Ігор Євгенович
МПК: G01N 21/55
Мітки: зміни, заломлення, рідких, газових, пристрій, середовищ, показника, реєстрації
Формула / Реферат:
Пристрій для реєстрації зміни показника заломлення газових та рідких середовищ на основі детектування явища ППР, який містить джерело лінійно поляризованого світла, чвертьхвильову фазову пластинку, фотопружний модулятор поляризації, напівциліндр внутрішнього відбивання з резонансно чутливою плівкою золота на відбиваючий поверхні та фотодетектор, який відрізняється тим, що додатково містить френелівську компенсаційну пластинку, розташовану...
Спосіб визначення зміни показника заломлення газових та рідких середовищ
Номер патенту: 86920
Опубліковано: 10.01.2014
Автори: Ушенін Юрій Валентинович, Маслов Володимир Петрович, Прохорович Анатолій Вікторович, Сердега Борис Кирилович, Матяш Ігор Євгенович
МПК: G01N 21/55
Мітки: заломлення, визначення, спосіб, газових, показника, зміни, середовищ, рідких
Формула / Реферат:
Спосіб визначення зміни показника заломлення газових та рідких середовищ, який базується на вимірюванні поверхневого плазмонного резонансу і включає опромінення резонансно чутливої границі, що розділяє досліджуване середовище з меншою оптичною густиною від середовища з більшою оптичною густиною, з боку якого здійснюється опромінення, однаковими по інтенсивності S- та Р-поляризаціями, які за допомогою модулятора поляризації змінюють одна одну...
Пристрій для фотопружної мікроскопії твердих тіл та їх структур
Номер патенту: 78510
Опубліковано: 25.03.2013
Автори: Сердега Борис Кирилович, Олійник Остап Олегович, Циганок Борис Архипович
МПК: G01N 1/28, G01N 21/21, G01J 4/00 ...
Мітки: тіл, пристрій, мікроскопі, структур, твердих, фотопружної
Формула / Реферат:
Пристрій для фотопружної мікроскопії твердих тіл та їх структур, який містить джерело поляризованого випромінювання, чвертьхвильову фазову пластину, мікрооб'єктив, фотопружний модулятор, аналізатор, фотодетектор, який відрізняється тим, що додатково містить поляризатор, оптоволокно, зонд з попередньо заданим квазілінійним розподілом оптичної анізотропії; синхронно-фазовий детектор, опорний вхід котрого підключений до блока живлення...
Спосіб градаційного вимірювання надмалих зміщень твердотільних структур поляризаційно-модуляційним методом
Номер патенту: 74814
Опубліковано: 12.11.2012
Автори: Циганок Борис Архипович, Сердега Борис Кирилович, Олійник Остап Олегович
МПК: G01N 21/41
Мітки: надмалих, методом, зміщень, твердотільних, структур, поляризаційно-модуляційним, спосіб, вимірювання, градаційного
Формула / Реферат:
Спосіб градаційного вимірювання надмалих зміщень твердотільних структур поляризаційно-модуляційним методом, що включає спрямування зондуючого поляризованого випромінювання на еталонний зразок, модуляцію стану поляризації випромінювання та спрямування його на фотодетектор, стан поляризації випромінювання змінюють регулюванням до рівня нульового сигналу на фотодетекторі за допомогою компенсатора, вимірюють сигнал фотодетектора та із його...
Пристрій “сапфір” контролю якості кристалів, прозорих в оптичному діапазоні вимірювання
Номер патенту: 73734
Опубліковано: 10.10.2012
Автори: Венгер Євген Федорович, Кущовий Сергій Миколайович, Сердега Борис Кирилович, Порєв Володимир Андрійович, Матяш Ігор Євгенійович, Маслов Володимир Петрович
МПК: G01N 23/20
Мітки: кристалів, оптичному, прозорих, сапфір, якості, пристрій, контролю, діапазоні, вимірювання
Формула / Реферат:
Пристрій контролю якості кристалів, прозорих в оптичному діапазоні вимірювання, що містить напівпровідниковий лазер, фазові пластини, утримувач зразка, модулятор поляризації та фотоелектронний приймач, який відрізняється тим, що одна фазова пластина розташована безпосередньо перед зразком, який контролюється, а друга - після нього.
Пристрій вимірювання внутрішніх механічних напружень в оптичних деталях
Номер патенту: 73418
Опубліковано: 25.09.2012
Автори: Прохорович Анатолій Вікторович, Венгер Євген Федорович, Кущовий Сергій Миколайович, Порєв Володимир Андрійович, Сердега Борис Кирилович, Маслов Володимир Петрович
МПК: G01N 21/21
Мітки: деталях, внутрішніх, пристрій, оптичних, напружень, механічних, вимірювання
Формула / Реферат:
Пристрій вимірювання внутрішніх механічних напружень в оптичних деталях, який містить напівпровідниковий лазер, лінзу, утримувач зразка, модулятор поляризації, компенсаційну фазову пластину та фотоелектронний приймач, який відрізняється тим, що утримувач зразка має нагрівальний елемент та термопару для контролю температури зразка.
Пристрій для контролю якості оптичних матеріалів
Номер патенту: 39789
Опубліковано: 10.03.2009
Автори: Венгер Євген Федорович, Сердега Борис Кирилович, Качур Наталія Володимирівна, Маслов Володимир Петрович
МПК: G01N 21/21
Мітки: оптичних, пристрій, матеріалів, контролю, якості
Формула / Реферат:
Пристрій для контролю якості оптичних матеріалів, що складається з поляризованого джерела видимого світла, модулятора, світлоподільника, еталона, компенсатора, фотодетектора, при цьому пристрій виконаний з можливістю кріплення зразка механізмами переміщення на координатному столі з мікрогвинтами, який відрізняється тим, що пристрій має додаткове джерело ІЧ-випромінювання, яке поєднане з джерелом видимого діапазону в одному каналі, а...
Пристрій для аналізу біомолекулярних середовищ
Номер патенту: 80876
Опубліковано: 12.11.2007
Автори: Сердега Борис Кирилович, Венгер Євген Федорович, Бережинський Леонід Йосипович, Коломзаров Юрій Вікторович, Полторейко Світлана Петрівна, Маслов Володимир Петрович
МПК: G01J 4/00, G01N 21/21, G01N 21/55 ...
Мітки: середовищ, пристрій, аналізу, біомолекулярних
Формула / Реферат:
Пристрій для аналізу біомолекулярних середовищ, який містить освітлювальну систему поляризованого монохроматичного світла, призму повного внутрішнього відбивання світла з нанесеним на її робочу поверхню плівковим робочим елементом, розташовану таким чином, щоб випромінювання падало на робочий елемент з боку призми, пристрій повороту призми відносно освітлювальної системи та фотоприймач відбитого від робочого плівкового елементу світла, який...
Модуляційно-поляризаційний біосенсор
Номер патенту: 26551
Опубліковано: 25.09.2007
Автори: Матяш Ігор Євгенович, Маслов Володимир Петрович, Бережинський Леонід Йосипович, Ушенін Юрій Валентинович, Руденко Світлана Петрівна, Сердега Борис Кирилович
МПК: G01N 21/55
Мітки: біосенсор, модуляційно-поляризаційний
Формула / Реферат:
Модуляційно-поляризаційний біосенсор, що містить джерело поляризованого випромінювання, фазову пластинку, кварцовий модулятор поляризації випромінювання, призму повного внутрішнього відбиття з резонансно чутливою границею, яка розділяє досліджуване середовище з меншою оптичною густиною від середовища з більшою оптичною густиною, з боку якого здійснюється опромінення, та фотодетектор інтенсивності випромінювання, відбитого від резонансно...
Пристрій для аналізу біосередовищ
Номер патенту: 23052
Опубліковано: 10.05.2007
Автори: Прохорович Анатолій Вікторович, Бережинський Леонід Йосипович, Сердега Борис Кирилович, Полторейко Світлана Петрівна
МПК: G01N 21/25
Мітки: пристрій, аналізу, біосередовищ
Формула / Реферат:
Пристрій для аналізу біосередовищ методом поверхневого плазмонного резонансу, що включає джерело поляризованого випромінювання, призму повного внутрішнього відбиття з резонансно чутливою границею, яка відділяє досліджуване середовище з меншою оптичною густиною від середовища з більшою оптичною густиною, з боку якого здійснюється опромінення, та фотодетектор інтенсивності випромінювання, відбитого від резонансно чутливої границі, який...
Спосіб вимірювання параметрів поверхневого плазмонного резонансу
Номер патенту: 20949
Опубліковано: 15.02.2007
Автори: Бережинський Леонід Йосипович, Сердега Борис Кирилович
МПК: G01N 21/55
Мітки: спосіб, вимірювання, параметрів, плазмонного, резонансу, поверхневого
Формула / Реферат:
Спосіб вимірювання параметрів поверхневого плазмонного резонансу, що включає опромінення поляризованим світлом резонансно чутливої границі, яка розділяє досліджуване середовище з меншою оптичною густиною від середовища з більшою оптичною густиною, з боку якого здійснюється опромінення, та вимірювання інтенсивності світла, відбитого від резонансно чутливої границі навколо кута поверхневого плазмонного резонансу, який відрізняється тим, що для...
Пристрій для вимірювання внутрішніх напружень в мікрокристалах
Номер патенту: 20659
Опубліковано: 15.02.2007
Автори: Бережинський Леонід Йосипович, Григор'єв Олег Миколайович, Сердега Борис Кирилович, Бережинський Ігор Леонідович
МПК: G01N 21/21, G01N 1/28
Мітки: напружень, вимірювання, внутрішніх, пристрій, мікрокристалах
Формула / Реферат:
Пристрій для вимірювання внутрішніх напружень в мікрокристалах, що містить перше джерело поляризованого світла, світлоподільник, компенсатор, мікрооб'єктив, еталон, модулятор, аналізатор, фотодетектор та оптичні елементи спостереження за досліджуваною поверхнею, який відрізняється тим, що додатково містить мікрооб'єктив для спостереження об’єктів у відбитому світлі і має друге джерело світла та оптично пов'язане з ним дзеркало з отвором для...
Пристрій вимірювання величини подвійного променезаломлювання
Номер патенту: 7496
Опубліковано: 15.06.2005
Автори: Маслов Володимир Петрович, Венгер Євген Федорович, Бережинський Леонід Йосипович, Сердега Борис Кирилович
МПК: G01N 21/00
Мітки: вимірювання, величини, променезаломлювання, пристрій, подвійного
Формула / Реферат:
Пристрій вимірювання величини подвійного променезаломлювання, що складається з джерела поляризованого світла, світлоподільника, компенсатора, еталона, модулятора, аналізатора та фотодетектора, який відрізняється тим, що додатково має мікрооб’єктив, розміщений на відстані від еталона, що дорівнює його фокусній відстані, та оптично зв’язаний з джерелом світла, а також додатковий світлоподільник та окуляр, розміщений на відстані від...
Спосіб вимірювання величини подвійного променезаломлення
Номер патенту: 19983
Опубліковано: 25.12.1997
Автор: Сердега Борис Кирилович
МПК: G01N 21/21
Мітки: вимірювання, променезаломлення, подвійного, спосіб, величини
Формула / Реферат:
Спосіб вимірювання величини подвійного променезаломлення, що містить спрямування зондуючого поляризованого випромінювання на еталонний зразок, відбиття його еталонним зразком у зворотному напрямку, модуляцію стану поляризації випромінювання та спрямування його світлодільником на детектор, який вiдрiзняється тим, що стан поляризації випромінювання змінюють регулюванням до рівня нульового сигналу на детекторі за допомогою додаткового елементу...