Патенти з міткою «надмалих»

Номер патенту: 74814

Опубліковано: 12.11.2012

Автори: Сердега Борис Кирилович, Циганок Борис Архипович, Олійник Остап Олегович

МПК: G01N 21/41

Мітки: поляризаційно-модуляційним, структур, градаційного, надмалих, твердотільних, зміщень, спосіб, методом, вимірювання

Формула / Реферат:

Спосіб градаційного вимірювання надмалих зміщень твердотільних структур поляризаційно-модуляційним методом, що включає спрямування зондуючого поляризованого випромінювання на еталонний зразок, модуляцію стану поляризації випромінювання та спрямування його на фотодетектор, стан поляризації випромінювання змінюють регулюванням до рівня нульового сигналу на фотодетекторі за допомогою компенсатора, вимірюють сигнал фотодетектора та із його...