Патенти з міткою «неплощинності»
Спосіб контролю неплощинності поверхні оптико-електронних деталей з керамічних та кристалічних матеріалів
Номер патенту: 119864
Опубліковано: 10.10.2017
Автори: Філатов Юрій Данилович, Ковальов Сергій Вікторович, Сидорко Володимир Ігорович
МПК: B24D 7/00
Мітки: неплощинності, кристалічних, оптико-електронних, деталей, матеріалів, поверхні, спосіб, контролю, керамічних
Формула / Реферат:
Спосіб контролю неплощинності поверхні оптико-електронних деталей з керамічних та кристалічних матеріалів, який включає фіксацію взаємного розташування окремих ділянок на оброблюваній поверхні за допомогою конфокального датчика переміщення, положення та товщини, який відрізняється тим, що безпосередньо в процесі їх обробки при обертанні та відносному переміщенні інструменту і деталі за їх взаємного притискання деталі встановлюють...