Патенти з міткою «обмірювання»

Номер патенту: 6298

Опубліковано: 16.05.2005

Автори: Гладишев Анатолій Андрійович, Черкасов Микола Дмитрович

МПК: G01B 3/02

Мітки: складських, одиниць, спосіб, обмірювання

Формула / Реферат:

Спосіб обмірювання складських одиниць, що включає натурні обмірювання мірною стрічкою довжин укосів штабеля на кожному пікеті, який відрізняється тим, що мірні стрічки закріплені на гребені штабеля в підйомному елементі, наприклад, у повітряній оболонці, при цьому кут при вершині штабеля фіксують потенціометром.