Патенти з міткою «замірів»
Пристрій для визначення і замірів параметрів шорсткості поверхонь у процесі різання
Номер патенту: 73472
Опубліковано: 25.09.2012
Автори: Усачов Петро Антонович, Даценко Михайло Андрійович
МПК: G01B 17/06, B23B 1/00, G01B 7/32 ...
Мітки: замірів, параметрів, шорсткості, визначення, поверхонь, процесі, пристрій, різання
Формула / Реферат:
Пристрій для визначення і замірів параметрів шорсткості поверхонь у процесі різання, що містить п'єзоакустичний датчик, з'єднаний через аналого-цифровий перетворювач (АЦП) з ПЕВМ і друкуючим пристроєм, який відрізняється тим, що у пристрій додатково введені блок фільтрації електричних сигналів, підсилювач, таймер і модулятор, причому блок фільтрів і підсилювач через блок АЦП послідовно підключені до модулятора, а таймер своїм входом...