Патенти з міткою «замірна»

Номер патенту: 89230

Опубліковано: 10.04.2014

Автори: Ларченко Віталій Григорович, Куценко Олеся Михайлівна

МПК: G01C 15/02

Мітки: станція, замірна, товщі, досліджень, деформацій, порід, підробляється

Формула / Реферат:

Замірна станція для досліджень деформацій товщі порід, що підробляється, що складається зі свердловини з глибинними реперами, обсадної труби, блоків на кулькопідшипниках, натяжних вантажів, лазерних приладів, металевої захисної "коробки", яка кріпиться до земної поверхні анкерами, яка відрізняється тим, що до обсадної труби, на якій розташований екран для спостережень за зрушенням усієї станції, за допомогою кріпильних планок,...