Андрущак Назарій Анатолійович

Номер патенту: 94390

Опубліковано: 10.11.2014

Автор: Андрущак Назарій Анатолійович

МПК: G09F 11/00

Мітки: пристрій, демонстраційний

Формула / Реферат:

1. Демонстраційний пристрій, що містить корпус, який складається з каркаса зі сторонами, кожна з яких виконана з напівпрозорого і прозорого матеріалів з можливістю встановлення між ними рекламних матеріалів, корпус виконаний з можливістю підсвічування зсередини і встановлений на подіумі з можливістю неперервного обертання навколо вертикальної осі та з'єднаний з механізмом обертання, що з'єднаний з блоком керування, який відрізняється тим, що...

Номер патенту: 93863

Опубліковано: 27.10.2014

Автори: Андрущак Анатолій Степанович, Годзішевський Конрад, Андрущак Назарій Анатолійович, Ящишин Євген Михайлович, Кушнір Олег Степанович

МПК: G01N 22/00

Мітки: діелектричної, вимірювання, інтерференційний, пристрій, проникності, матеріалів, векторно-аналізаторний

Формула / Реферат:

Векторно-аналізаторний інтерференційний пристрій вимірювання діелектричної проникності матеріалів, який містить послідовно розміщені джерело випромінювання, вхідну фокусуючу лінзу, поляризатор, а також послідовно розміщені аналізатор, вихідну фокусуючу лінзу та приймач випромінювання, крім того між поляризатором та аналізатором по ходу променя послідовно розміщені перша фокусуюча лінза, тримач зразка та друга фокусуюча лінза, який...

Номер патенту: 69582

Опубліковано: 10.05.2012

Автори: Андрущак Назарій Анатолійович, Андрущак Анатолій Степанович, Бобицький Ярослав Васильович

МПК: G01N 21/41

Мітки: досліджуваних, матеріалів, спосіб, зразків, вимірювання, непаралельними, оптичних, заломлення, гранями, показника

Формула / Реферат:

Спосіб вимірювання показника заломлення оптичних матеріалів із непаралельними гранями досліджуваних зразків, який полягає у тому, що досліджуваний зразок із оптичного матеріалу товщиною d обертають в одному із плечей інтерферометра до встановлення нульового положення зразка, тобто до такого положення, коли одна із граней зразка розміщена перпендикулярно до напрямку поширення електромагнітного випромінювання, вимірюють кут повороту зразка...

Номер патенту: 39155

Опубліковано: 10.02.2009

Автори: Думич Степан Степанович, Андрущак Анатолій Степанович, Андрущак Назарій Анатолійович, Тибінка Богдан Володимирович

МПК: G01N 21/01

Мітки: вимірювання, оптичних, інтерферометрично-поворотний, спосіб, матеріалів, заломлення, показника

Формула / Реферат:

Інтерферометрично-поворотний спосіб вимірювання показника заломлення оптичних матеріалів, який полягає у тому, що зразок із оптичного матеріалу у вигляді плоскопаралельної пластини товщиною d обертають в одному із плечей інтерферометра Майкельсона до встановлення нульового положення зразка, вимірюють кут повороту зразка j та величину зсуву інтерференційної картини в порядках інтерференції K і визначають показник заломлення n, який...

Номер патенту: 35224

Опубліковано: 10.09.2008

Автори: Андрущак Анатолій Степанович, Ящишин Євген Михайлович, Сиротинський Олег Іванович, Андрущак Назарій Анатолійович

МПК: G01N 22/00

Мітки: показника, матеріалів, пристрій, довжин, анізотропних, вимірювання, міліметрових, інтерферометрично-поворотний, сантиметрових, заломлення, хвиль, діапазонах, ізотропних

Формула / Реферат:

Інтерферометрично-поворотний пристрій для вимірювання показника заломлення ізотропних та анізотропних матеріалів в діапазонах міліметрових та сантиметрових довжин хвиль, що містить послідовно розміщені джерело електромагнітного випромінювання, фокусуючу лінзу, поляризатор випромінювання, перший ґратковий роздільник променя, який разом із дзеркальними відбивачами променя, один з яких встановлений з можливістю механічного переміщення, та другим...