Андрущак Анатолій Степанович

Номер патенту: 93863

Опубліковано: 27.10.2014

Автори: Андрущак Назарій Анатолійович, Годзішевський Конрад, Андрущак Анатолій Степанович, Кушнір Олег Степанович, Ящишин Євген Михайлович

МПК: G01N 22/00

Мітки: векторно-аналізаторний, діелектричної, пристрій, проникності, інтерференційний, матеріалів, вимірювання

Формула / Реферат:

Векторно-аналізаторний інтерференційний пристрій вимірювання діелектричної проникності матеріалів, який містить послідовно розміщені джерело випромінювання, вхідну фокусуючу лінзу, поляризатор, а також послідовно розміщені аналізатор, вихідну фокусуючу лінзу та приймач випромінювання, крім того між поляризатором та аналізатором по ходу променя послідовно розміщені перша фокусуюча лінза, тримач зразка та друга фокусуюча лінза, який...

Номер патенту: 83390

Опубліковано: 10.09.2013

Автори: Юркевич Олег Володимирович, Дем'янишин Наталія Михайлівна, Андрущак Анатолій Степанович, Убізський Сергій Борисович, Бурий Олег Анатолійович

МПК: G01N 21/41

Мітки: спосіб, виготовлення, бреггівської, кристалічного, комірки, світла, зразка

Формула / Реферат:

Спосіб виготовлення кристалічного зразка для Бреггівської комірки світла, який полягає в тому, що з джерела випромінювання на кристалічний матеріал скеровують поляризовану електромагнітну хвилю, одночасно збуджують в зразку акустичну хвилю, вимірюють зміну оптичного параметра електромагнітної хвилі та встановлюють напрямки поширення та поляризації електромагнітної і акустичної хвиль, при яких акустооптична ефективність є максимальною, і...

Номер патенту: 73511

Опубліковано: 25.09.2012

Автори: Дем'янишин Наталія Михайлівна, Мицик Богдан Григорович, Андрущак Анатолій Степанович

МПК: G01N 21/41

Мітки: анізотропного, фотопружної, матеріалу, виготовлення, елемента, спосіб, комірки, кристалічного, електрооптичної, чутливого

Формула / Реферат:

Спосіб виготовлення чутливого елемента з анізотропного кристалічного матеріалу для електрооптичної або фотопружної комірки, що включає дію фізичного поля на кристалічний зразок з одночасним вимірюванням зміни оптичного параметра та визначення ефективних напрямків дії фізичного поля і поширення світла з максимальним значенням індукованого оптичного ефекту за допомогою вказівних поверхонь, з наступним вирізанням із кристалічного зразка...

Номер патенту: 69582

Опубліковано: 10.05.2012

Автори: Бобицький Ярослав Васильович, Андрущак Анатолій Степанович, Андрущак Назарій Анатолійович

МПК: G01N 21/41

Мітки: вимірювання, заломлення, непаралельними, гранями, спосіб, оптичних, показника, матеріалів, зразків, досліджуваних

Формула / Реферат:

Спосіб вимірювання показника заломлення оптичних матеріалів із непаралельними гранями досліджуваних зразків, який полягає у тому, що досліджуваний зразок із оптичного матеріалу товщиною d обертають в одному із плечей інтерферометра до встановлення нульового положення зразка, тобто до такого положення, коли одна із граней зразка розміщена перпендикулярно до напрямку поширення електромагнітного випромінювання, вимірюють кут повороту зразка...

Номер патенту: 39218

Опубліковано: 10.02.2009

Автори: Мицик Богдан Григорович, Андрущак Анатолій Степанович, Юркевич Олег Володимирович, Кость Ярослав Павлович

МПК: G01N 21/45

Мітки: ходу, різниці, матеріалах, поляризаційно-оптичний, зміни, індукованої, визначення, пристрій, оптичних

Формула / Реферат:

1. Поляризаційно-оптичний пристрій для визначення індукованої зміни різниці ходу в оптичних матеріалах, що містить джерело лінійно поляризованого випромінювання, на осі променя якого розміщені досліджуваний зразок і аналізатор, встановлені відповідно в діагональне і схрещене положення до площини поляризації цього променя, та фотоприймач, електрично з'єднаний з реєструючим пристроєм, який відрізняється тим, що він додатково оснащений...

Номер патенту: 39155

Опубліковано: 10.02.2009

Автори: Андрущак Анатолій Степанович, Думич Степан Степанович, Тибінка Богдан Володимирович, Андрущак Назарій Анатолійович

МПК: G01N 21/01

Мітки: інтерферометрично-поворотний, вимірювання, оптичних, заломлення, спосіб, матеріалів, показника

Формула / Реферат:

Інтерферометрично-поворотний спосіб вимірювання показника заломлення оптичних матеріалів, який полягає у тому, що зразок із оптичного матеріалу у вигляді плоскопаралельної пластини товщиною d обертають в одному із плечей інтерферометра Майкельсона до встановлення нульового положення зразка, вимірюють кут повороту зразка j та величину зсуву інтерференційної картини в порядках інтерференції K і визначають показник заломлення n, який...

Номер патенту: 35224

Опубліковано: 10.09.2008

Автори: Андрущак Назарій Анатолійович, Ящишин Євген Михайлович, Андрущак Анатолій Степанович, Сиротинський Олег Іванович

МПК: G01N 22/00

Мітки: інтерферометрично-поворотний, ізотропних, матеріалів, анізотропних, вимірювання, міліметрових, показника, сантиметрових, хвиль, заломлення, пристрій, довжин, діапазонах

Формула / Реферат:

Інтерферометрично-поворотний пристрій для вимірювання показника заломлення ізотропних та анізотропних матеріалів в діапазонах міліметрових та сантиметрових довжин хвиль, що містить послідовно розміщені джерело електромагнітного випромінювання, фокусуючу лінзу, поляризатор випромінювання, перший ґратковий роздільник променя, який разом із дзеркальними відбивачами променя, один з яких встановлений з можливістю механічного переміщення, та другим...

Номер патенту: 17929

Опубліковано: 16.10.2006

Автори: Островський Ігор Петрович, Андрущак Анатолій Степанович, Тибінка Богдан Володимирович

МПК: G01N 21/41

Мітки: оптичних, заломлення, матеріалів, показника, спосіб, визначення

Формула / Реферат:

Спосіб визначення показника заломлення оптичних матеріалів, який полягає у тому, що зразок у вигляді плоскопаралельної пластини товщиною d обертають в одному із пліч інтерферометра Майкельсона до встановлення нульового положення зразка, вимірюють кут повороту зразка φ та величину зсуву інтерференційної картини в порядках інтерференції k і визначають показник заломлення n за формулою: