Барило Катерина Василівна
Спосіб класифікаційного настроювання електронного мікроскопа за зображенням зразка, що досліджується
Номер патенту: 103691
Опубліковано: 11.11.2013
Автори: Шелехов Ігор Володимирович, Востоцький Віталій Олексійович, Довбиш Анатолій Степанович, Барило Катерина Василівна
МПК: H01J 37/21
Мітки: досліджується, спосіб, мікроскопа, класифікаційного, зображенням, зразка, настроювання, електронного
Формула / Реферат:
Спосіб класифікаційного настроювання електронного мікроскопа за зображенням зразка, що досліджується, який включає формування матриці яскравості зображення, що фокусується, шляхом послідовного сканування потоком електронів його рецепторного поля і оцінки ступеня фокусування електронного зображення об'єкта, який відрізняється тим, що для формування матриці яскравості попередньо для сфокусованого зображення визначають нормоване поле допусків...