Патенти з міткою «мікроскопа»

Номер патенту: 91523

Опубліковано: 10.07.2014

Автори: Яценко Ірина В'ячеславівна, Фіалковський Павло Олександрович, Коваленко Юрій Іванович, Антонюк Віктор Степанович, Білокінь Світлана Олександрівна, Бондаренко Максим Олексійович

МПК: G01B 11/03

Мітки: позиціонування, лазерного, променя, атомно-силового, зонд, спосіб, мікроскопа

Формула / Реферат:

Спосіб позиціонування лазерного променя на зонд атомно-силового мікроскопа, що включає розташування еліптичного дзеркала з тришаровим оксидним покриттям по напрямку ходу лазерного променя при його фокусуванні на зонді, який відрізняється тим, що генерують лазерне випромінювання і направляють на еліптичне дзеркало, яке додатково розташовують на шляху розповсюдження лазерного променя до зонда, причому попередньо на поверхню еліптичного...

Номер патенту: 103691

Опубліковано: 11.11.2013

Автори: Шелехов Ігор Володимирович, Барило Катерина Василівна, Востоцький Віталій Олексійович, Довбиш Анатолій Степанович

МПК: H01J 37/21

Мітки: зображенням, досліджується, електронного, зразка, настроювання, спосіб, мікроскопа, класифікаційного

Формула / Реферат:

Спосіб класифікаційного настроювання електронного мікроскопа за зображенням зразка, що досліджується, який включає формування матриці яскравості зображення, що фокусується, шляхом послідовного сканування потоком електронів його рецепторного поля і оцінки ступеня фокусування електронного зображення об'єкта, який відрізняється тим, що для формування матриці яскравості попередньо для сфокусованого зображення визначають нормоване поле допусків...

Номер патенту: 80685

Опубліковано: 10.06.2013

Автори: Володарський Євген Тимофійович, Шантир Антон Сергійович

МПК: G01B 5/02

Мітки: електронного, калібрування, мікроскопа, пристрій, растрового

Формула / Реферат:

Пристрій для калібрування растрового електронного мікроскопа, який містить блок нормалізації вимірювального сигналу, блок визначення точок вигину вимірювального сигналу, блок визначення контрольних точок вимірювального сигналу, блок визначення відстаней між контрольними точками вимірювального сигналу, блок оцінювання метрологічних характеристик та блок перевірки паралельності встановлення стандартного зразка рядковій розгортці растрового...

Номер патенту: 80684

Опубліковано: 10.06.2013

Автори: Шантир Антон Сергійович, Володарський Євген Тимофійович

МПК: G01B 3/30

Мітки: електронного, растрового, мікроскопа, зразок, калібрування, стандартний

Формула / Реферат:

Стандартний зразок для калібрування растрового електронного мікроскопа, який містить блок крокової структури, який відрізняється тим, що додатково містить генератор прямокутних імпульсів, блок Фур'є перетворення, блок обчислення геометричних параметрів крокової структури, причому вихід генератора прямокутних імпульсів з'єднаний зі входом блока Фур'є перетворення та з входом блока крокової структури, вихід якої з'єднаний зі входом блока...

Номер патенту: 70167

Опубліковано: 25.05.2012

Автори: Сафронов Віталій Вікторович, Малов Валентин Олексійович, Селиванов Олександр Вікторович, Жарков Іван Павлович

МПК: G05D 23/30

Мітки: мікроскопа, терморегульований, растрового, кріогенний, пристрій, електронного

Формула / Реферат:

1. Терморегульований кріостатний пристрій до растрового електронного мікроскопа, що містить вертикальний та горизонтальні корпуси, і у вертикальному корпусі якого розташовані підвісні радіаційні екрани, які обхоплюють резервуар для азоту і резервуар-живильник для гелію із клапаном постійного тиску і перемикаючим вентилем, а також датчик тиску, який підключений до резервуара-живильника і випарник кріогенної рідини, який змонтовано на...

Номер патенту: 67705

Опубліковано: 12.03.2012

Автори: Боровицький Володимир Миколайович, Чорна Вікторія Володимирівна, Міхеєнко Леонід Андрійович

МПК: G02B 21/06

Мітки: мікроскопа, освітлювач, оптичного

Формула / Реферат:

Освітлювач для оптичного мікроскопа, який складається з інтегруючої сфери, яка має вихідну апертуру, який відрізняється тим, що інтегруюча сфера має діаметр від 50 до 700 мм з вихідною апертурою діаметром від 5 до 250 мм, внутрішня поверхня сфери покрита матеріалом, який забезпечує дифузне розсіювання падаючого випромінювання з коефіцієнтом відбиття від 0,5 до 0,9999, перед отворами на поверхні сфери встановлені від 1 до 128 джерел...

Номер патенту: 88784

Опубліковано: 25.11.2009

Автори: Чмуль Анатолій Григорович, Єрмаков Віктор Михайлович, Жарков Іван Павлович, Сафронов Віталій Вікторович, Маслов Валентин Олексійович

МПК: G05D 23/30

Мітки: мікроскопа, приставка, електронного, криогенна, растрового, терморегульована

Формула / Реферат:

Терморегульована кріогенна приставка до растрового електронного мікроскопа, яка містить послідовно з'єднані трубопроводами ємність для кріоагента, кріостат у вигляді теплообмінника, який знаходиться в тепловому контакті з предметним столиком мікроскопа, регулятор температури та пост відкачування кріоагента через регулятор температури в магістраль, причому предметний столик мікроскопа з'єднаний з механізмом його переміщення, яка відрізняється...

Номер патенту: 40936

Опубліковано: 27.04.2009

Автори: Ларкін Сергій Юрійович, Злобін Сергій Олександрович

МПК: G01B 5/00, G01B 11/08

Мітки: мікроскопа, модуль, скануючого, багатозондовий

Формула / Реферат:

Багатозондовий модуль для скануючого мікроскопа, що містить касету із зондами, з'єднану із приводом обертання, закріпленим на основі, зв'язаний із приводом обертання трубчастий п'єзосканер, що містить фланець та одним кінцем закріплений на основі, при цьому касета виконана у вигляді набору кронштейнів із зондами, виконаних у вигляді кварцових резонаторів з вістрями та установлених на фланці з можливістю руху відносно нього й взаємодії зі...

Номер патенту: 25699

Опубліковано: 27.08.2007

Автор: Бондаренко Анатолій Миколайович

МПК: G02B 21/06

Мітки: освітлювач, мікроскопа

Формула / Реферат:

Освітлювач для мікроскопа, що містить джерела світла і живлення, який відрізняється тим, що як джерело світла використовують оптичний напівпровідниковий світлодіод з силою світла джерела не менше 15 кандел і кутом випромінювання не менше 18 градусів, що має вбудовану власну оптичну систему у вигляді збиральної лінзи, що є частиною пластикового корпуса діода з діаметром 10 мм (тип GNL-5023 UWC-15C або аналогічний) з біло-блакитним спектром...

Номер патенту: 12339

Опубліковано: 15.02.2006

Автори: Широков Володимир Володимирович, Лутицький Олександр Лукич, Рудковський Євген Мар'янович, Широков Олексій Володимирович

МПК: G01N 3/56, H04N 7/22, G02B 21/00 ...

Мітки: тертя, постійного, пристрій, зношування, металографічного, спостереження, матеріалів, базі, документального, відеофільмування, процесу, мікроскопа

Формула / Реферат:

Пристрій для постійного спостереження та документального відеофільмування процесу тертя і зношування матеріалів на базі металографічного мікроскопа, який включає вузол тертя і систему навантаження, який відрізняється тим, що додатково містить адаптовані металографічний мікроскоп та відеотермінал.

Номер патенту: 71456

Опубліковано: 15.11.2004

Автори: Гордієнко Юрій Омелянович, Рябухін Олексій Олександрович, Сліпченко Микола Іванович

МПК: G01N 22/00

Мітки: резонаторний, інтегральній, зонд, мікроскопа, мікрохвильового, мікрополозковий

Формула / Реферат:

Інтегральний мікрополозковий НВЧ резонаторний зонд мікрохвильового мікроскопа, що містить інтегровані на одній діелектричній чи напівпровідниковій підкладці НВЧ-генератор, вихід якого з'єднаний з циркулятором, що також з'єднаний з детектором, та сенсор, який складається з фідера та резонатора, який відрізняється тим, що в нього введено додаткові сенсори, причому в кожен сенсор введено фазообертач, що з'єднаний з фідером і резонатором,...

Номер патенту: 67835

Опубліковано: 15.07.2004

Автори: Лапчук Анатолій Степанович, Крючин Андрій Андрійович

МПК: G02B 26/10, G02B 21/00

Мітки: мікроскопа, зонд, близькопольового

Формула / Реферат:

Зонд близькопольового мікроскопа, що являє собою витягнуту у вигляді конуса діелектричну трубку або оптоволокно, на бічну поверхню яких нанесено провідний металевий шар, який відрізняється тим, що провідний металевий шар нанесено у вигляді двох непрозорих провідних ізольованих одна від одної смужок, що розташовуються одна навпроти одної і що звужуються у напрямку вістря зонда, які утворюють мікросмужкову лінію змінного профілю і які...

Номер патенту: 64570

Опубліковано: 16.02.2004

Автори: Шелехов Ігор Володимирович, Краснопоясовський Анатолій Степанович, Скаковська Алла Миколаївна, Козинець Михайло Володимирович

МПК: H01J 37/02

Мітки: досліджуваного, електронного, мікроскопа, об'єкта, фокусування, автоматичного, спосіб, зображенням

Формула / Реферат:

Спосіб автоматичного фокусування електронного мікроскопа за зображенням досліджуваного об'єкта, який включає формування матриці яскравості зображення, що фокусується, шляхом послідовного сканування потоком електронів його рецепторного поля і оцінки ступеня фокусування електронного зображення об'єкта, який відрізняється тим, що спочатку формують матрицю яскравості для початкового розфокусованого зображення об'єкта, яке приймають за базове,...

Номер патенту: 58634

Опубліковано: 15.08.2003

Автори: Лапчук Анатолій Степанович, Крючин Андрій Андрійович

МПК: G02B 5/30, G01B 9/04, G02B 21/06 ...

Мітки: мікроскопа, поля, поляризаційних, проведення, вимірювань, зонд, ближнього

Формула / Реферат:

Зонд мікроскопа ближнього поля для проведення поляризаційних вимірювань, що виконаний у вигляді відрізка оптоволокна або прозорої діелектричної трубки з вузьким дистальним кінцем конічної форми, на бічну поверхню якого нанесено провідне металеве покриття, який відрізняється тим, що вказане покриття нанесено у вигляді чотирьох непрозорих провідних ізольованих одна від одної повздовжніх смужок, розташованих попарно одна навпроти одної і...

Номер патенту: 25067

Опубліковано: 25.12.1998

Автори: Михайловський Ігор Михайлович, Великодна Ольга Олександрівна, Дранова Жана Ілінічна, Мазілова Тетяна Іванівна

МПК: H01J 37/26

Мітки: емітер, зондувальний, тунельного, сканувального, мікроскопа

Формула / Реферат:

Зондирующий эмиттер для сканирующего туннельного микроскопа, выполненный в виде стержня с рабочим острием, образованным последовательностью ступенек с уменьшением размера основания каждой ступеньки к вершине острия, и со сформированным на последней ступеньке полусферическим микровыступом, отличающийся тем, что зондирующий эмиттер выполнен из материала с осевой текстурой, ступеньки выполнены полусферическими, а число ступенек определено из...