Берцик Юрій Іванович

Пристрій для контролю товщини плівок високотемпературних матеріалів

Завантаження...

Номер патенту: 20501

Опубліковано: 15.07.1997

Автори: Світлинець Володимир Павлович, Берцик Юрій Іванович, Довгошей Микола Іванович, Качер Ігор Емануїлович, Мотрунич Сергій Яношович

МПК: G01B 9/02, G01B 9/00

Мітки: плівок, товщини, контролю, пристрій, високотемпературних, матеріалів

Формула / Реферат:

Пристрій для контролю товщини плівок висо­котемпературних матеріалів, виконаний у вигляді послідовно встановленого джерела лінійно-поля-ризованого випромінювання, чвертьхвильової пластинки, підкладки з плівкою, оптичної систе­ми, контролюючого фотоприймача та системи реєстрації, який відрізняється тим, що пристрій додатково містить світлоподілювач, встановлений між чііертьхвильовою пластинкою і джерелом вип­ромінювання, оптичний клин,...