Качер Ігор Емануїлович
Пристрій для контролю товщини плівок високотемпературних матеріалів
Номер патенту: 20501
Опубліковано: 15.07.1997
Автори: Берцик Юрій Іванович, Довгошей Микола Іванович, Мотрунич Сергій Яношович, Качер Ігор Емануїлович, Світлинець Володимир Павлович
Мітки: контролю, плівок, матеріалів, високотемпературних, пристрій, товщини
Формула / Реферат:
Пристрій для контролю товщини плівок високотемпературних матеріалів, виконаний у вигляді послідовно встановленого джерела лінійно-поля-ризованого випромінювання, чвертьхвильової пластинки, підкладки з плівкою, оптичної системи, контролюючого фотоприймача та системи реєстрації, який відрізняється тим, що пристрій додатково містить світлоподілювач, встановлений між чііертьхвильовою пластинкою і джерелом випромінювання, оптичний клин,...