Дхуаі Хатем Бен
Спосіб діагностики трансверзальних аномалій
Номер патенту: 61622
Опубліковано: 17.11.2003
Автори: Радочина Світлана Вікторівна, Руденко Михайло Модестович, Дхуаі Хатем Бен, Стеценко Андрій Вікторович
МПК: A61C 7/00
Мітки: спосіб, аномалій, діагностики, трансверзальних
Формула / Реферат:
Спосіб діагностики трансверзальних аномалій шляхом антропометричних вимірювань розмірів верхньої щелепи і ширини обличчя, який відрізняється тим, що визначають співвідношення ширини верхньої щелепи між 16 і 26 зубами (ШВЩ) до ширини обличчя в ділянці виличних дуг (Zy - Zy) за формулою, деМВІ – молярно-виличний індекс,ШВЩ ·16 - 26 – ширина верхньої...