Гриценко Яків Анатолійович
Спосіб визначення ступеня щільності кришталика
Номер патенту: 93206
Опубліковано: 25.09.2014
Автори: Гриценко Яків Анатолійович, Батирев Олексій Арістідович, Бєліков Валерій Григорійович, Пасєчнікова Наталія Володимирівна, Дмитрієв Сергій Костянтинович, Скіпа Михайло Іванович
МПК: A61B 3/00
Мітки: ступеня, кришталика, визначення, спосіб, щільності
Формула / Реферат:
Спосіб визначення ступеня щільності кришталика, що полягає у проведенні ультразвукового (УЗ) сканування середовищ ока, який відрізняється тим, що проводять ультразвукове (УЗ) В-сканування, отримують показник акустичної ехогенності різних шарів кришталика, і за отриманим значеннями за допомогою комп'ютерної програми визначають показник відносного акустичного імпедансу і, якщо його значення знаходиться в межах 0,10-0,14 у.о. - встановлюють 1...