Іванов Юрій Стратонович
Пристрій для вимірювання профілю поверхні
Номер патенту: 15650
Опубліковано: 17.07.2006
Автори: Ігнатьєв Євген Борисович, Іванов Юрій Стратонович, Карташев Володимир Ілліч, Кульський Леонід Олександрович
МПК: G01B 11/00
Мітки: вимірювання, профілю, пристрій, поверхні
Формула / Реферат:
1. Пристрій для вимірювання профілю поверхні, що включає основу з отвором, на якій закріплені освітлювальна система для формування плоского світового потоку і оптична приймальна система, який відрізняється тим, що освітлювальна система для формування плоского світового потоку містить лазерний діод, циліндричну лінзу та щілинну діафрагму, розташовані на спільній оптичній осі, які створюють плоский світовий потік, направлений під кутом 45°...