Пристрій для вимірювання профілю поверхні
Номер патенту: 15650
Опубліковано: 17.07.2006
Автори: Ігнатьєв Євген Борисович, Кульський Леонід Олександрович, Іванов Юрій Стратонович, Карташев Володимир Ілліч
Формула / Реферат
1. Пристрій для вимірювання профілю поверхні, що включає основу з отвором, на якій закріплені освітлювальна система для формування плоского світового потоку і оптична приймальна система, який відрізняється тим, що освітлювальна система для формування плоского світового потоку містить лазерний діод, циліндричну лінзу та щілинну діафрагму, розташовані на спільній оптичній осі, які створюють плоский світовий потік, направлений під кутом 45° відносно основи, а оптична приймальна система містить оптично зв'язані об'єктив та фотоприймач, причому вісь оптично зв'язаних об'єктива та фотоприймача розташована під кутом 45° відносно основи та під кутом 45° відносно площини світового потоку.
2. Пристрій за п. 1, який відрізняється тим, що фотоприймач виконаний у вигляді світлочутливої матриці.
3. Пристрій за будь-яким із пп. 1, 2, який відрізняється тим, що додатково містить корпус, в якому розташовані фотоприймач та об'єктив.
4. Пристрій за будь-яким із пп. 1-3, який відрізняється тим, що фотоприймач містить вихід, що підключений до входу обчислювального блока.
5. Пристрій за п. 4, який відрізняється тим, що обчислювальний блок являє собою персональний комп'ютер.
Текст
1. Пристрій для вимірювання профілю поверхні, що включає основу з отвором, на якій закріплені освітлювальна система для формування плоского світового потоку і оптична приймальна система, який відрізняється тим, що освітлювальна система для формування плоского світового потоку містить лазерний діод, циліндричну лінзу та щілинну діафрагму, розташовані на спільній опти 3 15650 4 співвісно з освітлювальною системою та виконаЗапропонована корисна модель пояснюється ним у вигляді двох співвісних лінз, встановлених кресленнями, де зображено на: одна від одної на відстані, рівній сумі їх фокусних Фіг.1 - пристрій для вимірювання профілю відстаней, у точці збігу фокусів яких розташований поверхні; екран з виконаною в ньому паралельно основі Фіг.2 - пристрій для вимірювання профілю щілиною та оптична прийомна система, що містить поверхні, вигляд зверху. фотоприймач, модулятор, на циліндричній поверПристрій для вимірювання профілю поверхні хні якого виконані отвори, а на торцевій поверхні включає основу 1 з отвором 2, на якій закріплені закріплена пластина для перекриття світового поосвітлювальна система для формування плоского току від додаткового джерела світла до додатковосвітового потоку, що містить лазерний діод 3, циго фотоприймача і блок просторової фільтрації ліндричну лінзу 4 та щілинну діафрагму 5, розтавипромінювання. Пристрій містить блок обробки шовані на спільній оптичній вісі під кутом 45° відсигналів, що з'єднаний з виходом додаткового фоносно основи 1, та оптична прийомна система, що топриймача [Патент Російської Федерації містить оптично зв'язані об'єктив б та фотоприй№2116616, дата публікації 27.07.1998р.]. мач 7, причому вісь оптично зв'язаних об'єктива 6 Недоліком зазначеного пристрою є те, що його та фотоприймача 7 розташована під кутом 45° конструктивне виконання не дозволяє здійснювати відносно основи 1 та під кутом 45° відносно пловимірювання профілю поверхні стандартної щини світового потоку 8. Фотоприймач містить діафрагми, а саме радіусу закруглення гострої вихід 9. Об'єктив 6 та фотоприймач 7 розташовані кромки. в корпусі 10. Задачею даної корисної моделі являється Пристрій для вимірювання профілю поверхні удосконалення пристрою для вимірювання профівстановлений на торцевій поверхні 11 стандартної лю поверхні, в якому за рахунок запропонованого діафрагми 12 з отвором 13 так, що плоский конструктивного виконання та зв'язку між елеменсвітовий потік освітлює торцеву поверхню 11, тами забезпечується можливість та точність виміциліндричну частину 14 та гостру кромку 15. рювання профілю поверхні стандартної діафрагПристрій для вимірювання профілю поверхні ми, а саме радіусу закруглення гострої кромки. працює наступним чином. Пристрій для Поставлена задача вирішується запропоновавимірювання розташовують на торцевій поверхні ним пристроєм для вимірювання профілю поверх11 стандартної діафрагми 12. Світовий потік від ні, що включає основу з отвором, на якій закріплені лазерного діоду 3 поступає на циліндричну лінзу 4 освітлювальна система для формування плоского та щілинну діафрагму 5, де перетворюється в плосвітового потоку і оптична прийомна система, в ский світовий потік, який проходить через отвір 2 якому освітлювальна система для формування основи 1 та падає одночасно на ділянку переходу плоского світового потоку містить лазерний діод, торцевої поверхні 11 в циліндричну частину 14, в циліндричну лінзу та щілинну діафрагму, розташорезультаті чого у площині світового перерізу вані на спільній оптичній вісі, які створюють плосспостерігають вузьку ділянку переходу торцевої кий світовий потік, направлений під кутом 45° відповерхні 11 в циліндричну частину 14, що дає змоносно основи, а оптична прийомна система гу спостерігати радіус закруглення гострої кромки містить оптично зв'язані об'єктив та фотоприймач, 15. Спостереження вузької ділянки переходу причому вісь оптично зв'язаних об'єктива та фототорцевої поверхні 11 в циліндричну частину 14 та приймача розташована під кутом 45° відносно осгострої кромки 15 виконують за допомогою фотонови та під кутом 45° відносно площини світового приймача 7 через поле зору об'єктива 6. Із виходу потоку. 9 фотоприймача 7 сигнал подається, зокрема, для Фотоприймач виконаний у вигляді обробки на обчислювальний блок. світлочутливої матриці. Таке конструктивне виконання пристрою для Фотоприймач та об'єктив додатково вимірювання профілю поверхні дозволяє здійснюрозташовані в корпусі. вати вимірювання профілю поверхні, зокрема виФотоприймач містить вихід, який підключають мірювати радіус закруглення гострої кромки стандо входу обчислювального блоку. Обчислювальдартних діафрагм, що використовують в системах ний блок являє собою персональний комп'ютер. контролю витрат газу. 5 Комп’ютерна верстка Л. Купенко 15650 6 Підписне Тираж 26 прим. Міністерство освіти і науки України Державний департамент інтелектуальної власності, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601
ДивитисяДодаткова інформація
Назва патенту англійськоюDevice for measuring surface profile
Назва патенту російськоюУстройство для измерения профиля поверхности
МПК / Мітки
МПК: G01B 11/00
Мітки: профілю, поверхні, вимірювання, пристрій
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/3-15650-pristrijj-dlya-vimiryuvannya-profilyu-poverkhni.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Пристрій для вимірювання профілю поверхні</a>
Попередній патент: Робоче колесо високонапірної радіально-осьової гідротурбіни
Наступний патент: Спосіб одержання сцинтиляційного напівпровідникового матеріалу на основі халькогенідів цинку
Випадковий патент: Пристрій для вимірювання мотивації студентів, слухачів до навчання при роботі в інтерактивному комп'ютерному середовищі