Йул Хенрік
Спектральний аналіз середнього інфрачервоного випромінювання плинних неоднорідних матеріалів
Номер патенту: 105995
Опубліковано: 10.07.2014
Автор: Йул Хенрік
МПК: G01N 21/35, G01N 21/05, G01N 21/85 ...
Мітки: матеріалів, аналіз, спектральний, плинних, середнього, неоднорідних, випромінювання, інфрачервоного
Формула / Реферат:
1. Спосіб визначення компонентів плинного неоднорідного зразка, який включає в себе отримання зразка матеріалу; вимірювання значень затухання середнього інфрачервоного випромінювання зразка та розрахунок у блоці обробки даних показника шуканого компонента у зразку на основі виміряних значень затухання середнього інфрачервоного випромінювання, який відрізняється тим, що, крім того, спосіб включає в себе плинність зразка; одночасну взаємодію...