Христосенко Роман Володимирович
Спосіб лазерного контролю ступеня структурної досконалості кристалічних матеріалів
Номер патенту: 70090
Опубліковано: 25.05.2012
Автори: Венгер Євген Федорович, Качур Наталія Володимирівна, Христосенко Роман Володимирович, Лабузов Олександр Євгенійович, Ліптуга Анатолій Іванович, Маслов Володимир Петрович
МПК: G01N 21/39
Мітки: лазерного, кристалічних, контролю, ступеня, матеріалів, досконалості, спосіб, структурної
Формула / Реферат:
Спосіб лазерного контролю ступеня структурної досконалості кристалічних матеріалів, в якому зразок опромінюють лазерним випромінюванням, довжина хвилі якого відповідає діапазону прозорості кристала, який відрізняється тим, що між зразком та джерелом випромінювання розміщують діафрагму зі щілиною або отвором, розмір якого дорівнює довжині хвилі випромінювання, за зразком встановлюють прилад, що приймає випромінювання, що пройшло через...