Патенти з міткою «досконалості»

Номер патенту: 106662

Опубліковано: 10.05.2016

Автори: Зарицький Олександр Федорович, Самусенко Олег Васильович, Карчинський Віктор Олександрович, Єщенко Іван Олексійович, Мисливий Валентин Михайлович, Кравченко Ілля Іванович

МПК: A63B 17/04, A63B 21/00, A63B 21/06 ...

Мітки: спортивних, етапі, реабілітації, комплекс, виконання, досконалості, фізичної, вправ, снарядів

Формула / Реферат:

1. Комплекс спортивних снарядів для виконання вправ з на етапі реабілітації та на етапі фізичної досконалості, до складу якого входять шведська стінка з рядом щаблів та турніком зверху, який відрізняється тим, що нахильна полиця виконана з шарніром усередині, з механізмом фіксації для забезпечення тих чи інших вправ, а дві пари вух знизу забезпечують те чи інше поздовжнє положення лавки.2. Комплекс за п. 1, який відрізняється тим, що...

Номер патенту: 88195

Опубліковано: 11.03.2014

Автори: Будяну Раду Георгійович, Костюк Володимир Володимирович, Грабчак Володимир Іванович, Русіло Петро Олександрович, Калінін Олександр Марковійович, Варванець Юрій Вікторович

МПК: G01N 27/27

Мітки: досконалості, оцінювання, зразків, військової, рівня, спосіб, озброєння, техніки, однотипних, технічної

Формула / Реферат:

Спосіб оцінки рівня технічної досконалості однотипних зразків озброєння і військової техніки, який полягає у визначенні комплексного показника, який відрізняється тим, що за комплексний показник вибирають суму добутків балів технічних і тактико-технічних характеристик, отриманих за пропорційною шкалою оцінок, на коефіцієнт вагомості технічних і тактико-технічних характеристик однотипних зразків озброєння і військової техніки.

Номер патенту: 83392

Опубліковано: 10.09.2013

Автори: Світличний Віталій Анатольевич, Хорошайло Юрій Євгенійович

МПК: G01N 27/90

Мітки: вихрострумовий, досконалості, плівок, неферомагнітних, контролю, спосіб, резонансний, тонких, структури

Формула / Реферат:

Резонансний вихрострумовий спосіб контролю досконалості структури тонких неферомагнітних плівок, що включає збудження в об'єкті контролю вихрових струмів змінним електромагнітним полем, зразок тонких неферомагнітних плівок розміщують у високочастотне поле між плоскими котушками вихрострумового перетворювача (ВСП) екранного типу, який відрізняється тим, що для виявлення неоднорідності структури додатково зразок тонких неферомагнітних плівок...

Номер патенту: 72694

Опубліковано: 27.08.2012

Автори: Чорний Микола Васильович, Калінін Олександр Марковійович, Варванець Юрій Вікторович, Русіло Петро Олександрович, Купріненко Олександр Миколайович

МПК: G01N 27/27

Мітки: вибору, напрямків, спосіб, військової, озброєння, удосконалення, однотипних, техніки, досконалості, зразків, рівня, технічної

Формула / Реферат:

Спосіб вибору напрямків удосконалення рівня технічної досконалості однотипних зразків озброєння та військової техніки, який полягає у порівнянні технічних і тактико-технічних характеристик (показників), який відрізняється тим, що напрям удосконалення вибирають на підставі порівняння показників рівня технічної досконалості однотипних зразків озброєння та військової техніки за профілем технічної досконалості (пелюстковою діаграмою).

Номер патенту: 72693

Опубліковано: 27.08.2012

Автор: Русіло Петро Олександрович

МПК: G01N 27/27

Мітки: військової, досконалості, техніки, технічної, однотипних, оцінювання, спосіб, озброєння, зразків, рівня

Формула / Реферат:

Спосіб оцінки рівня технічної досконалості однотипних зразків озброєння і військової техніки, який полягає у визначені комплексного показника, який відрізняється тим, що за комплексний показник вибирають суму балів, отриманих за пропорційною шкалою оцінок, тактико-технічних характеристик однотипних зразків озброєння і військової техніки.

Номер патенту: 70090

Опубліковано: 25.05.2012

Автори: Маслов Володимир Петрович, Лабузов Олександр Євгенійович, Качур Наталія Володимирівна, Венгер Євген Федорович, Христосенко Роман Володимирович, Ліптуга Анатолій Іванович

МПК: G01N 21/39

Мітки: контролю, структурної, досконалості, лазерного, матеріалів, спосіб, ступеня, кристалічних

Формула / Реферат:

Спосіб лазерного контролю ступеня структурної досконалості кристалічних матеріалів, в якому зразок опромінюють лазерним випромінюванням, довжина хвилі якого відповідає діапазону прозорості кристала, який відрізняється тим, що між зразком та джерелом випромінювання розміщують діафрагму зі щілиною або отвором, розмір якого дорівнює довжині хвилі випромінювання, за зразком встановлюють прилад, що приймає випромінювання, що пройшло через...

Номер патенту: 65254

Опубліковано: 25.11.2011

Автори: Варванець Юрій Вікторович, Калінін Олександр Марковійович, Чорний Микола Васильович, Русіло Петро Олександрович

МПК: G01N 27/27

Мітки: технічної, оцінювання, техніки, рівня, зразків, досконалості, військової, озброєння, однотипних, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб оцінювання рівня технічної досконалості однотипних зразків озброєння і військової техніки, який полягає у визначенні комплексного показника, який відрізняється тим, що за комплексний показник технічної досконалості приймають суму рангів технічних і тактико-технічних характеристик однотипних зразків озброєння і військової техніки.

Номер патенту: 22455

Опубліковано: 25.04.2007

Автори: Білоцька Алла Олексіївна, Молодкін Вадим Борисович, Низкова Ганна Іванівна, Когут Михайло Тихонович, Гинько Ігор Володимирович, Шпак Анатолій Петрович, Григор'єв Данило Олегович, Барабаш Роза Ісаківна

МПК: G01N 23/20

Мітки: монокристалів, структурної, спосіб, досконалості, визначення

Формула / Реферат:

Спосіб визначення структурної досконалості монокристалів, що включає визначення товщини поверхневого порушеного шару у монокристалах після механічної обробки та полягає в тому, що на досліджуваний монокристал спрямовують пучок монохроматичного рентгенівського випромінювання, здійснюють асиметричну Брегг-дифракцію, попередньо визначають кути падіння рентгенівського випромінювання на поверхню зразка, яким відповідають спрямовуючі косинуси

Номер патенту: 77223

Опубліковано: 15.11.2006

Автори: Новиков Микола Миколайович, Макара Володимир Арсенійович, Теселько Петро Олексійович

МПК: G01N 23/20

Мітки: кристалів, досконалості, інтегральної, оцінки, спосіб, структурної

Формула / Реферат:

Спосіб інтегральної оцінки структурної досконалості кристалів, що включає реєстрацію рентгенівської двокристальної дифрактограми, який відрізняється тим, що від поверхні досліджуваного кристала записують криву коливання в геометрії Брегга, реєструють максимальне значення її інтенсивності  та її ширину поблизу підніжжя на рівні

Номер патенту: 42618

Опубліковано: 17.11.2003

Автори: Сушко Володимир Георгійович, Ременюк Петро Іванович, Новиков Микола Миколайович, Теселько Петро Олексійович

МПК: G01N 23/20

Мітки: оцінки, кристалів, інтегральної, досконалості, структурної, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб інтегральної оцінки структурної досконалості кристалів, що полягає в реєстрації рентгенівської дифрактограми та визначенні ступеня досконалості кристала з відношення інтенсивностей розсіяння променів, який відрізняється тим, що від поверхні досліджуваного кристала записують трикристальну рентгенівську дифрактограму по методу Брегга в області кута повороту зразка a, при якому роздільно спостерігають дифузний та головний максимуми...

Номер патенту: 44121

Опубліковано: 15.01.2002

Автори: Владімірова Тетяна Петрівна, Решетник Олег Васильович, Кисловський Євген Миколайович, Оліховський Степан Йосипович, Лень Євген Георгійович, Молодкін Вадим Борисович, Шпак Анатолій Петрович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Остафійчук Богдан Костянтинович

МПК: G01N 23/20, G01N 23/00

Мітки: спосіб, структурної, досконалості, монокристалів, контролю

Формула / Реферат:

Спосіб контролю структурної досконалості монокристалів, який полягає в тому, що досліджуваний зразок опромінюють пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі l і відомої інтенсивності , здійснюють в ньому брегг-дифракцію на системі площин (hkl), вимірюють залежність дифрагованої інтенсивності , де...

Номер патенту: 19220

Опубліковано: 25.12.1997

Автори: Шпак Анатолій Петрович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Низкова Ганна Іванівна, Осиновський Максим Євгенович, Кривицький Владислав Петрович, Поленур Олександр Вольфович, Когут Михайло Тихонович, Остапчук Анатолій Іванович, Кисловський Євген Миколайович, Кшевецький Станіслав Антонович, Гуреєв Микола Анатолійович, Ковальчук Михайло Валентинович, Литвинов Юрій Михайлович, Гуреєв Анатолій Миколайович, Бар'яхтар Віктор Григорович, Молодкін Вадим Борисович, Бідник Дмитро Ілліч, Оліховський Степан Йосифович

МПК: G01N 23/20

Мітки: динамічної, розсіюючих, структурної, визначення, спосіб, монокристалів, досконалості

Формула / Реферат:

Способ определения структурного совершенства динамически рассеивающих монокристаллов, согласно котором исследуемый образец облучают полихроматическим пучком рентгеновского излучения и измеряют интегральную интенсивность рефлексов при дифракции излучения для двух положений при повороте образца и определяют статический фактор Дебая-Валлера Lн, отличающийся тем, что дифракцию излучения в обоих положениях образца осуществляют в геометрии Брэгга,...

Номер патенту: 20094

Опубліковано: 25.12.1997

Автори: Гурєєв Анатолій Миколайович, Лось Андрій Вікторович, Когут Михайло Тихонович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Кривицький Владислав Петрович, Кисловський Євген Миколайович, Оліховський Степан Йосипович, Молодкін Вадим Борисович, Низкова Ганна Іванівна, Гаврилова Олена Миколаївна

МПК: G01N 23/20

Мітки: досконалості, монокристалів, динамічної, спосіб, розсіюють, експресного, контролю, структурної

Формула / Реферат:

Способ экспрессного контроля структурного совершенства динамически рассеивающих монокристаллов, согласно которому исследуемый образец облучают пучком рентгеновского излучения, осуществляют брэгг-дифракцию, измеряют интегральную интенсивность отражения, поворачивают образец таким образом, чтобы реализовалось брэгг-отражение, характеризующееся тем же вектором дифракции, измеряют его интегральную интенсивность, рассчитывают по измеренным...

Номер патенту: 14831

Опубліковано: 18.02.1997

Автори: Кисловський Євген Миколайович, Ковальчук Міхаіл Валєнтіновіч, Когут Михайло Тихонович, Кютт Регінальд Ніколаєвіч, Бар'яхтар Віктор Григорович, Низкова Ганна Іванівна, Шпак Анатолій Петрович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Оліховський Степан Йосипович, Молодкін Вадим Борисович, Грищенко Тарас Аркадійович, Гинько Ігор Володимирович

МПК: G01N 23/20

Мітки: спосіб, структурної, контролю, монокристалів, досконалості

Формула / Реферат:

Способ контроля структурного совершенства монокристаллов, заключающийся в том, что исследуемый кристалл-образец толщиной  облучают пучком рентгеновского излучения с длиной волны  выбранной из условия  - линейный коэффициент фотоэлектрического поглощения), осуществляют на нем лауэ-дифракцию с вектором дифракции  измеряют толщинные зависимости интегральной отражательной способности образца  где   путем наклона образца в угловом диапазоне  от...

Номер патенту: 3699

Опубліковано: 27.12.1994

Автори: Молодкін Вадим Борисович, Гурєєв Микола Анатолійович, Гурєєв Анатолій Миколайович, Кривицький Владислав Петрович, Низкова Ганна Іванівна, Осиновський Максим Євгенович, Оліховський Степан Йосипович, Полінур Олександр Вольфович, Кисловський Євген Миколайович, Когут Михайло Тихонович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Сторижко Володимир Юхимович, Литвинов Юрій Михайлович, Ковальчук Михайло Валентинович, Курбаков Олександр Іванович

МПК: G01N 23/20

Мітки: монокристалів, контролю, структурної, розсіюючий, динамічної, спосіб, досконалості

Формула / Реферат:

Способ контроля структурного совершенства динамических рассеивающих монокристаллов, за­ключающийся в том, что исследуемый образец толщиной t облучают полихроматическим пучком рентгеновского излучения, осуществляют лауэ-дифракцию излучения длины волны t, выбранной из условия, налагаемого на производстве m (l)1, где m - коэффициент фотоэлектрического погло­щения на определенной системе плоскостей, изме­ряют интегральные интенсивности JRH (l)...