Кушнір Олексій Олександрович

Спосіб візуалізації локальних полів у метал-діелектричних нанокомпозитних матеріалах

Завантаження...

Номер патенту: 94609

Опубліковано: 25.11.2014

Автори: Гамерник Роман Васильович, Болеста Іван Михайлович, Ковальчук Микола Григорович, Карбовник Іван Дмитрович, Кушнір Олексій Олександрович

МПК: G01N 21/64

Мітки: полів, спосіб, локальних, візуалізації, нанокомпозитних, метал-діелектричних, матеріалах

Формула / Реферат:

Спосіб візуалізації локальних полів у метал-діелектричних нанокомпозитних матеріалах, за яким опромінюють дослідний зразок високоенергетичним світлом і реєструють люмінесцентне свічення, який відрізняється тим, що на дослідний зразок наносять люмінесцентний барвник і одержують картину розподілу інтенсивності свічення, що відповідає розподілу локального поля дослідного зразка.

Пристрій для вимірювання кутової залежності інтенсивності розсіяного світла

Завантаження...

Номер патенту: 94003

Опубліковано: 27.10.2014

Автори: Рабик Василь Григорович, Кушнір Олексій Олександрович, Болеста Іван Михайлович, Ковальчук Микола Григорович, Сімків Богдан Олексійович

МПК: G01N 21/47

Мітки: кутової, пристрій, вимірювання, світла, розсіяного, інтенсивності, залежності

Формула / Реферат:

Пристрій для вимірювання кутової залежності інтенсивності розсіюваного світла, що містить лазер, першу діафрагму, дослідний зразок, послідовно з'єднані оптоволоконний кабель, друга діафрагма, фотоприймач з вимірювальною схемою і мікропроцесорною системою лічби фотонів, персональний комп'ютер, який відрізняється тим, що додатково введено кроковий двигун із закріпленим на його осі важелем з оптоволоконним кабелем, вхід якого переміщується в...

Спосіб виготовлення нанокомпозитного матеріалу

Завантаження...

Номер патенту: 92956

Опубліковано: 10.09.2014

Автори: Карбовник Іван Дмитрович, Гамерник Роман Васильович, Бурак Ярослав Володимирович, Адамів Володимир Теодорович, Болеста Іван Михайлович, Теслюк Ігор Михайлович, Ковальчук Микола Григорович, Кушнір Олексій Олександрович

МПК: C03C 3/064

Мітки: спосіб, виготовлення, матеріалу, нанокомпозитного

Формула / Реферат:

Спосіб виготовлення нанокомпозитного матеріалу, за яким багатоступеневим температурним синтезом з вихідних компонентів літію карбонату і борної кислоти одержують порошок літію тетраборату, який відрізняється тим, що до порошку літію тетраборату додають 1 % ваг. дрібнозернистого нітрокислого срібла, стоплюють суміш в атмосфері повітря при температурі 1300±50 К з наступною гомогенізацією, вирізають пластини, їх полірують і відпалюють в...

Спосіб визначення розподілу за розмірами частинок металу у дисперсійних системах

Завантаження...

Номер патенту: 86830

Опубліковано: 10.01.2014

Автори: Ковальчук Микола Григорович, Болеста Іван Михайлович, Колич Ігор Іванович, Кушнір Олексій Олександрович

МПК: G01N 15/02

Мітки: визначення, металу, частинок, розподілу, розмірами, системах, спосіб, дисперсійних

Формула / Реферат:

Спосіб визначення розподілу за розмірами частинок металу у дисперсійних системах, за яким одержують спектри поглинання, який відрізняється тим, що розраховують сукупність спектрів поглинання дисперсійної системи для вибраного діапазону розмірів частинок металу, сумують ці спектри зі своїми ваговими коефіцієнтами, отримують модельований спектр, суміщають його з експериментальним і визначають вагові коефіцієнти, які відповідають розмірам...

Спосіб вимірювання товщин нанорозмірних об’єктів

Завантаження...

Номер патенту: 86631

Опубліковано: 10.01.2014

Автори: Болеста Іван Михайлович, Кушнір Олексій Олександрович, Ковальчук Микола Григорович, Колич Ігор Іванович

МПК: G01N 13/00

Мітки: вимірювання, товщин, спосіб, нанорозмірних, об'єктів

Формула / Реферат:

Спосіб вимірювання товщин нанорозмірних об'єктів, за яким сканують як підкладку, так і самий об'єкт, визначають товщину як різницю між висотою плівки та підкладки, який відрізняється тим, що параметри нерівностей підкладки визначають на області, що відповідає підкладці, а застосовують для всього зображення, віднімають від кожної точки зображення висоту, що відповідає моделі поверхні підкладки, отримують дві області зображення, що...