Лекеллек Джон
Система для пошуку та виявлення дефектів в елементах за допомогою ендоскопії
Номер патенту: 82658
Опубліковано: 12.05.2008
Автори: Бонненг Ізабелль, Лекеллек Джон, Бакселла Мішель, Лемоаль Жан-Клод
МПК: G02B 23/26, A61B 1/06
Мітки: пошуку, дефектів, система, допомогою, виявлення, ендоскопії, елементах
Формула / Реферат:
1. Система для пошуку та виявлення дефектів у недоступних елементах, розташованих за стінкою, яка містить жорсткий трубчастий циліндричний стрижень для введення через ендоскопічний отвір у стінці, трубочки, розміщені у стрижні та призначені для нанесення речовин для випробувань з проникненням на ділянку елемента, засіб для спрямування світла і засіб для передачі зображення, розміщені у стрижні та призначені для освітлення та огляду згаданої...