Воронков Євген Олегович
Спосіб визначення модуля пружності матеріалу з кристалічною структурою у різних кристалографічних напрямках
Номер патенту: 104986
Опубліковано: 25.03.2014
Автори: Заблудовьский Володимир Олександрович, Штапенко Едуард Пилипович, Воронков Євген Олегович, Дудкіна Валентина Василівна
МПК: G01N 3/00
Мітки: напрямках, спосіб, кристалічною, матеріалу, пружності, кристалографічних, різних, визначення, модуля, структурою
Формула / Реферат:
Спосіб визначення модуля пружності матеріалу з кристалічною структурою, що включає вимірювання параметрів матеріалу і обчислення шуканого модуля пружності, який відрізняється тим, що вимірюється період кристалічної решітки і обчислення проводять для різних кристалографічних напрямів () по формулі: