Аналоговий рідкокристалічний індикатор

Винахід відноситься до індикаторних пристроїв, зокрема до аналогових рідкокристалічних індикаторів. Відомий аналоговий рідкокристалічний індикатор у вигляді рідкокристалічної комірки, яка має рідкокристалічний матеріал, розміщений між двома прозорими підкладками, на внутрішній стороні першої прозорої підкладки сформовано перший прозорий електрод, на внутрішній стороні другої прозорої підкладки сформовано другий прозорий електрод, який має форму меандру, периферійну ізолюючу прокладку, яка разом з першою і другою прозорими підкладками ізолює шар рідкокристалічного матеріалу (Индикаторные устройства на жидких кристаллах / Под ред. З.Ю. Готры. - М.: Сов. радио, 1980. - 240с.). Для даного індикатора характерна зміна питомого опору рідкокристалічного матеріалу під дією постійної прикладеної напруги і складність виготовлення другого прозорого електроду. Відомий аналоговий рідкокристалічний індикатор у вигляді рідкокристалічної комірки, яка має шар рідкокристалічного матеріалу, розміщений між двома прозорими підкладками, на внутрішній стороні першої прозорої підкладки сформовано перший прозорий високоомний електрод, на внутрішній стороні другої прозорої підкладки сформовано другий прозорий низькоомний електрод, периферійну ізолюючу прокладку, яка разом з першою і другою прозорими підкладками ізолює рідкокристалічний матеріал (Патент Японии №57 - 30240). Для такого типу індикатора характерна зміна питомого опору рідкокристалічного матеріалу під дією постійної прикладеної напруги, складність конструкції та технології виготовлення. В основу винаходу поставлено завдання створити аналоговий рідкокристалічний індикатор, в якому нове виконання одного з електродів дозволило б забезпечити стабільність характеристик рідкокристалічного матеріалу в часі, спростити конструкцію і технологію виготовлення. Поставлене завдання досягається тим, що в аналоговому рідкокристалічному індикаторі у вигляді рідкокристалічної комірки, яка має шар рідкокристалічного матеріалу, розміщений між першою і другою прозорими підкладками, на внутрішній стороні першої прозорої підкладки сформовано перший прозорий електрод, на внутрішній стороні другої прозорої підкладки сформовано другий електрод, периферійну ізолюючу прокладку, яка разом з першою і другою прозорими підкладками ізолює рідкокристалічний матеріал, згідно винаходу, один з електродів виконано з змінною товщиною і/або шириною по довжині. Виконання одного з прозорих електродів з змінною товщиною і/або шириною забезпечує зміну його опору по довжині, внаслідок чого при прикладенні до шару рідкого кристалу вимірюваної напруги збуджується область рідкого кристалу, в якій значення цієї прикладеної напруги більше від значення порогової напруги рідкокристалічного матеріалу, зміна значення вимірюваної напруги приводить до відповідної зміни величини області збудження шару рідкого кристалу; стабільність характеристик рідкокристалічного матеріалу в часі; спрощення конструкції та технології ви готовлення. На кресленні (фіг.) зображено запропонований аналоговий рідкокристалічний індикатор. Аналоговий рідкокристалічний індикатор виконаний у вигляді рідкокристалічної комірки, яка має рідкокристалічний матеріал 1, розміщений між першою 2 і другою 3 прозорими підкладками. На внутрішній стороні першої прозорої підкладки 2 сформовано перший прозорий електрод 4. На внутрішній стороні другої прозорої підкладки 3 сформовано другий електрод 5 з змінною товщиною і/або шириною по довжині. Периферійна ізолююча прокладка 6, разом з першою прозорою підкладкою 2 і другою прозорою підкладкою 3, ізолює шар рідкокристалічного матеріалу 1. Якщо вимірювану напругу прикласти до прозорого електроду 2 і до електроду 5, то внаслідок зміни його опору по довжині, збудиться область рідкого кристалу, в якій, значення прикладеної напруги більше від значення порогової напруги. При зміні значення прикладеної напруги, відповідно змінюється величина області збудження рідкокристалічного матеріалу 1. Запропонований аналоговий рідкокристалічний індикатор завдяки новому виконанню одного з електродів дозволяє забезпечити стабільність характеристик рідкокристалічного матеріалу в часі, спростити конструкцію і технологію виготовлення.