Номер патенту: 18511

Опубліковано: 25.12.1997

Автори: Савчин Володимир Павлович, Орищин Юрій Михайлович

Завантажити PDF файл.

Формула / Реферат

Способ исследования свойств света, включающий наблюдение на экране и расчет дифракционной картины, обусловленной падением перпендикулярно на круглое дифракционное отверстие лазерного излучения, отличающийся тем, что изменяют диаметр дифракционного отверстия до появления в центре дифракционной картины светлого пятна, которое выделяют экранной диафрагмой, после чего уменьшают интенсивность лазерного излучения до потока отдельных фотонов, в чем убеждаются с помощью фотоэлектронного умножителя со счетчиком фотонов, затем увеличивают диаметр дифракционного отверстия до исчезновения показаний счетчика фотонов.

Текст

Винахід відноситься до способів дослідження фізичних явищ в учбовому процесі, зокрема до дослідження квантово-механічних властивостей світла. Відомий спосіб дослідження хвильових властивостей світла, в якому пучок лазерного випромінювання роблять розбіжним за допомогою розсівної лінзи, подають його на об'єкт дифракції і на екрані спостерігають дифракційну картину [1]. Однак цей спосіб не призначений для дослідження квантово-механічних властивостей світла, оскільки не дозволяє впевнитися в імовірнісному характері поведінки фотонів, наприклад в незастосовності до окремо взятого фотона, який рухається в дуже малому просторі, поняття траєкторії. Технічний результат, який досягається при використанні пропонованого способу, полягає в забезпеченні демонстрації квантово-механічних властивостей світла. Вказаний технічний результат досягається тим, що в способі дослідження властивостей світла, який полягає у спостереженні на екрані і розрахунок дифракційної картини, зумовленої падінням перпендикулярно на круглий дифракційний отвір лазерного випромінювання, згідно з винаходом, змінюють діаметр дифракційного отвору до появи в центрі дифракційної картини світлої плями, яку виділяють екранною діафрагмою, після чого зменшують інтенсивність лазерного випромінювання до потоку окремих фотонів, в чому переконуються за допомогою фотоелектронного помножувача з лічильником фотонів, потім збільшують діаметр дифракційного отвору до зникнення показів лічильника фотонів. Авторам невідоме використання аналогічних ознак, які б застосовувалися в учбовому процесі та дозволяли демонструвати квантово-механічні властивості світла. До цього часу квантовомеханічні властивості світла випливають лише з теоретичних положень і не демонструються експериментальне в учбовому процесі. Вперше пропонуються продемонструвати їх в лабораторному експерименті. На фіг.1 приведений приклад реалізації способу; на фіг.2 - схема проходження сферичної хвилі від джерела через круглий отвір. Пристрій у вигляді світлонепроникного ящика 1, який містить встановлені на оптичній лаві (не показана) гелій-неоновий лазер 2, ослаблювач 3, збірну лінзу 4 для формування точкового джерела світла в області екранної діафрагми 5, круглий регульований дифракційний отвір 6, розсівну лінзу 7, регульовану діафрагму 8, екран 9, фотоелектронний помножувач (ФП) 10 з лічильником фотонів 11. Пропонований спосіб дослідження властивостей світла реалізуються наступним чином. Створений лазером 2 світловий потік збирають за допомогою лінзи 4 на дуже малому круглому отворі 5, який відіграє роль точкового джерела Зміною діаметра діфракційного отвору 6 добиваються, щоби в центрі дифракційної картини, яка складається почергово з світлих та темних кілець з центрами в точці знаходився дифракційний максимум. Це означає, що в ди фракційному отворі вкладається непарне число зон Френеля. Відомо, що дифракція, як і інтерференція, є проявом хвильової природи світла. Вирішальну роль в утвердженні і в подальшому розвитку, який дозволяє зокрема пояснити дифракцію світла та дати методи кількісного розрахунку відіграв принцип Гюйгенса - Френеля (Детлеф А.А., Яворский Б,М. Курс физики. М.: Высш. шк.., 1989. С.361 - 366). Оснований на ньому метод зон Френеля дозволяє порівняно просто розрахувати інтенсивність світла для різних випадків дифрації. Так, в результаті падіння сферичної хвилі на круглий отвір в непрозорому екрані (див. фіг.2) спостерігається дифракційна картина на екрані Згідно з принципом Гюйгенса - Френеля дифракційні хвилі можна розглядати як суперпозицію вторинних хвиль, які виходять з кожного елемента площі на екрані. Для цього будують на відкритій частині фронту хвилі зони Френеля відповідній точці зони Френеля, інтерференційна картина поблизу точки екрану повинна мати вигляд почергово темних і світлих кілець з центрами в точці Освітленість центра дифракційної картини, яка вирізується дифракційним отвором з поверхні хвильового фронту, залежить від числа зон Френеля. Число таких зон пов'язано з радіусом отвору, відстаннями від центра отвору до джерела світла та до точки спостереження а також з довжиною хвилі світла Співвідношення для радіуса зовнішньої границі m - ної зони Френеля має вигляд: де - радіус хвильової поверхні. Якщо в отворі вкладається непарне число зон, то в точці спостерігається інтерференційний максимум, а при парному числі зон - мінімум. З віддаленням від інтенсивність максимумів світла зменшується. Якщо діаметр отвору великий, то картини на екрані не буде світло в цьому випадку поширюється практично так само як і при відсутності непрозорого екрану з отвором, тобто прямолінійно. Таким чином в пропонованому способі, використовуючи співвідношення (1), переконуються, що число зон Френеля де тобто в дифракційному отворі вкладається непарне число зон Френеля. Не змінюючи віддалі між компонентами установки, діафрагмою 8 виділяють центральний світлий максимум і, забираючи екран 9, відкривають ФП 10. Зменшують світловий потік введенням послаблювача до потоку окремих фотонів і реєструють їх з допомогою ФП. Далі, збільшивши діаметр дифракційного отвору до зон Френеля, переконуються, що ФП перестає реєструвати фотони. Використання запропонованого способу дослідження властивостей світла забезпечує порівняно з існуючими способами експериментальну перевірку та підтвердження теоретичних положень квантовомеханічних принципів. Це можливо завдяки зменшенню інтенсивності світла до одержання дискретного пучка фотонів та реєстрації окремих фотонів з допомогою ФП. Змінюючи діаметр зон Френеля від до переконуються, що збільшення отвору приводить до зменшення кількості світла, що потрапляє в ФП. Звідси випливає, що поняття траєкторії для квантів світла незастосовне.

Дивитися

Додаткова інформація

Назва патенту англійською

Method for research of light properties

Автори англійською

Oryschyn Yurii Mykhailovych, Savchyn Volodymyr Pavlovych

Назва патенту російською

Способ исследования свойств света

Автори російською

Орищин Юрий Михайлович, Савчин Владимир Павлович

МПК / Мітки

МПК: G09B 23/22

Мітки: дослідження, спосіб, властивостей, світла

Код посилання

<a href="https://ua.patents.su/2-18511-sposib-doslidzhennya-vlastivostejj-svitla.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб дослідження властивостей світла</a>

Подібні патенти