Спосіб нормування світлового потоку в однопроменевих спектрофотометрах
Номер патенту: 32696
Опубліковано: 15.02.2001
Автори: Петрук Василь Григорович, Гаркушевський Володимир Савович, Смолінський Євген Степанович, Томчук Микола Антонович, Слободяник Анатолій Дмитрович
Формула / Реферат
Спосіб нормування світлового потоку в однопроменевих спектрофотометрах, який полягає в нормуванні світлового потоку з допомогою вертикальної вихідної щілини, який відрізняється тим, що нормування світлового потоку здійснюють з допомогою плаваючої горизонтальної щілини при фіксованій вертикальній щілині.
Текст
Спосіб нормування світлового потоку в однопроменевих спектрофотометрах, який полягає в нормуванні світлового потоку з допомогою вертикальної вихідної щілини, який відрізняється тим, що нормування світлового потоку здійснюють з допомогою плаваючої горизонтальної щілини при фіксованій вертикальній щілині. (19) (21) 98020604 (22) 04.02.1998 (24) 15.02.2001 (33) UA (46) 15.02.2001, Бюл. № 1, 2001 р. (72) Слободяник Анатолій Дмитрович, Смолінський Євген Степанович, Петрук Василь Григорович, Гаркушевський Володимир Савович, Томчук Микола Антонович 32696 нами інтервалів, тому відносну похибку, зумовлену кінцевою шириною спектрального інтервалу, можна представити так: ¥ ¥ ò Ll S (l ) f (l) dl - Ll 0 S (l) 0 ò0 d = 0 ¥ Ll 0 S (l ) 0 ò f ( l )dl 0 вання положення висоти щілини для даної довжини хвилі, коли в вимірювальній порожнині знаходиться еталонний зразок при фіксованих показах реєструючого пристрою (наприклад, 100 умовних одиниць). В подальшому вимірюванні проходить зворотній процес. Встановлюється необхідне положення щілини, яке визначено в процесі попередньої калібровки, але у вимірювальній порожнині з находиться вже досліджуваний зразок. Реєструючий пристрій при цьому буде фіксувати відносні значення необхідних спектральних величин. В обох випадках ширина вихідної щілини залишається постійною. На основі отриманих результатів з допомогою ЕОМ будуються спектральні залежності оптичних характеристик (поглинання, пропускання, відбивання). f (l )dl де l0 встановлена довжина хвилі; f (l ) - функція пропускання в довільних відносних одиницях. Спосіб реалізується за допомогою пристрою, зображеного на креслені. Пристрій складається з лез незмінної вертикальної щілини 1 та лез плаваючої горизонтальної щілини 2. Спосіб реалізується таким чином. В процесі попередньої калібровки проводять запам'ятову Фіг. __________________________________________________________ ДП "Український інститут промислової власності" (Укрпатент) Україна, 01133, Київ-133, бульв. Лесі Українки, 26 (044) 295-81-42, 295-61-97 __________________________________________________________ Підписано до друку ________ 2001 р. Формат 60х84 1/8. Обсяг ______ обл.-вид. арк. Тираж 50 прим. Зам._______ ____________________________________________________________ УкрІНТЕІ, 03680, Київ-39 МСП, вул. Горького, 180. (044) 268-25-22 ___________________________________________________________ 2
ДивитисяДодаткова інформація
Назва патенту англійськоюMethod for normalization of light flux in single-beam spectrophotometers
Автори англійськоюSlobodianyk Anatolii Dmytrovych, Smolinskyi Yevhen Stepanovych, Petruk Vasyl Hryhorovych, Harkushevskyi Volodymyr Savovych, Tomchuk Mykola Antonovych
Назва патенту російськоюСпособ нормирования светового потока в однолучевых спектрофотометрах
Автори російськоюСлободяник Анатолий Дмитриевич, Смолинский Евгений Степанович, Петрук Василий Григорьевич, Гаркушевский Владимир Саввич, Томчук Николай Антонович
МПК / Мітки
Мітки: спосіб, спектрофотометрах, нормування, однопроменевих, світлового, потоку
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/2-32696-sposib-normuvannya-svitlovogo-potoku-v-odnopromenevikh-spektrofotometrakh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб нормування світлового потоку в однопроменевих спектрофотометрах</a>
Попередній патент: Пристрій для відбору проб зоопланктону
Наступний патент: Енергосистема
Випадковий патент: Пристрій для магнітно-абразивної обробки