Інфрачервоний газоаналізатор

Інфрачервоний газоаналізатор, що містить оптично спряжені джерело випромінювання, багатоходову систему у вигляді інтегруючої сфери із 3 34078 4 чому оптичний вхід 2 та ви хід 7 розташовані на зміна інтенсивності випромінювання при прохорізних осях, які не проходять через центр сфери, дженні через газ, що призводить до відповідної отвори 5 і 6 для заповнення внутрішньої порожнизміни сигналу на ви ході приймача. ни інтегруючої сфери аналізованим газом, світлоВ якості джерела випромінювання використофільтр 8 та приймач випромінювання 9. В якості вуються напівпровідникові лазери, у якості привнутрішнього покриття інтегруючої сфери викорисймача - фоторезистор. тано двошарове інтерференційне покриття із Аl2О3 У такому інфрачервоному газоаналізаторі за і Al2S3 , крім того, введено систему прокачування рахунок нанесення на внутрішню поверхню інтеггазу 4, яка з'єднана із вхідним отвором 5 інтегруюруючої сфери послідовно тонких діелектричних чої сфери. плівок Аl2О3 та Al2S 3 досягається більш повне виПристрій працює наступним чином. Аналізовакористання пучка випромінювання, а, відтак, і підний газ закачується за допомогою системи прокавищення чутли вості та точності вимірювань. Це чування газу 4 через вхідний отвір 5 до порожнини пояснюється тим, що в утвореній системі "внутріінтегруючої сфери 3. Випромінювання від джерела шнє покриття сфери - Al2O3-Al 2S3" спостерігаються 1 потрапляє через оптичний вхід 2 в порожнину інтерференційні ефекти, в результаті чого коефіціінтегруючої сфери 3, де, відбиваючись від стінок, єнт відбивання такої системи досягає 98,5%, що є взаємодіє із газом, що аналізується, та виходить вищим у порівнянні із прототипом. Плівка Аl2О3 через вихідний отвір 6. При цьому всередині сфенаноситься методом осадження або напилення. А ри встановлюється певний рівень освітленості, що плівка Al2S3 наноситься за допомогою пропускання пропорційний послабленню випромінювання в крізь інтегруючу сферу із уже нанесеною плівкою аналізованому газі. Після цього випромінювання, Аl2О 3 газоподібного H2S. При цьому відбувається проходячи через оптичний вихід 7 та інфрачервохімічна реакція: ний світлофільтр 8, що узгоджує смугу випромінюАl2О 3+H2S®Al2S3 +Н2О. вання приймача зі смугою поглинання газу, потраДля порівняння наведемо таблицю із коефіціпляє на приймач випромінювання 9. Сигнал на єнтами відбивання інфрачервоного випромінювиході приймача випромінювання пропорційний вання деякими поверхнями: величині падаючого на нього потоку випромінювання. Мірою концентрації аналізованого газу є Тип поверхні Коефіцієнт відбивання Комп’ютерна в ерстка А. Крижанівський Чистий Аl 0,97 Аl+Аl2О 3 0,96 Підписне Аl+Аl2О 3+Al2S3 0,985 Тираж 26 прим. Міністерство осв іт и і науки України Держав ний департамент інтелектуальної в ласності, вул. Урицького, 45, м. Київ , МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислов ої в ласності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601