Завантажити PDF файл.

Формула / Реферат

Пристрій для вимірювання малих переміщень містить освітлювач, об'єктив, оптичний вихід якого пов'язаний з фотолінійкою, обчислювальний пристрій, вхід якого пов'язаний з виходом фотолінійки, який відрізняється тим, що в нього введено рейку зі щілиною, на якій жорстко закріплений освітлювач і об'єктив, а оптичний вхід щілини пов'язаний з освітлювачем, вихід - з об'єктивом, блок керування, вихід якого електрично пов'язаний з входом фотолінійки.

Текст

Пристрій для вимірювання малих переміщень містить освітлювач, об'єктив, оптичний вихід якого пов'язаний з фотолінійкою, обчислювальний пристрій, вхід якого пов'язаний з виходом фотолінійки, який відрізняється тим, що в нього введено рейку зі щілиною, на якій жорстко закріплений освітлювач і об'єктив, а оптичний вхід щілини пов'язаний з освітлювачем, вихід - з об'єктивом, блок керування, вихід якого електрично пов'язаний з входом фотолінійки. (19) (21) u200905591 (22) 01.06.2009 (24) 26.10.2009 (46) 26.10.2009, Бюл.№ 20, 2009 р. (72) КУХАРЧУК ВАСИЛЬ ВАСИЛЬОВИЧ, БІЛИНСЬКИЙ ЙОСИП ЙОСИПОВИЧ, БІЛИНСЬКИЙ ВОЛОДИМИР ЙОСИПОВИЧ (73) ВІННИЦЬКИЙ НАЦІОНАЛЬНИЙ ТЕХНІЧНИЙ УНІВЕРСИТЕТ 3 45156 4 ì æ s ö ï s2d ± d2s 4 + æ s2 - s2 ös2 × ç d2 + 2s2 ln 2 ÷ 1 s ÷ 1 1 ç 2 1÷ 1 ç è ø ï 1ø è ïs1 2 = , 2 - s2 ö æs ï ç 2 1÷ ï è ø ï (Imax - Imin )b × d í s1 = ï DI1 2p ï (Imax - Imin )b × d ï s2 = ï DI2 2p ï d = N× d - l ×k ï î де s1 та s2 - ступінь розмитості правого і лівого краю щілини; d - величина зсуву в міжпікселному просторі відносно одного із країв щілини; Imin - максимальне значення перепаду інтенсивності; Imax - мінімальне значення перепаду інтенсивності; b - коефіцієнт пропорційності; ∆I1, ∆I2 - максимальна зміна інтенсивності в околі краю щілини правого і лівого краю щілини відповідно; Комп’ютерна верстка В. Мацело l - ширина щілини; k - коефіцієнт оптичного збільшення; d - крок дискретизації фото лінійки. N - кількість засвічених фотоелементів щілиною. Перевагами пристрою є висока точність вимірювання величини малих переміщень, зручність експлуатації. В результаті вимірювань і попередньої обробки величина абсолютної похибки складає менше 2,5мкм при коефіцієнті оптичного збільшення k=0,35. Підписне Тираж 28 прим. Міністерство освіти і науки України Державний департамент інтелектуальної власності, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601

Дивитися

Додаткова інформація

Назва патенту англійською

Device for measurement of small displacements

Автори англійською

Kukharchuk Vasyl Vasyliovych, Bilynsky Yosyp Yosypovych, Bilynskyi Volodymyr Yosypovych

Назва патенту російською

Устройство для измерения малых перемещений

Автори російською

Кухарчук Василий Васильевич, Билинский Иосиф Иосифович, Билынский Владимир Иосифович

МПК / Мітки

МПК: G01B 11/16

Мітки: малих, пристрій, переміщень, вимірювання

Код посилання

<a href="https://ua.patents.su/2-45156-pristrijj-dlya-vimiryuvannya-malikh-peremishhen.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Пристрій для вимірювання малих переміщень</a>

Подібні патенти