Пристрій для вимірювання малих переміщень
Номер патенту: 45156
Опубліковано: 26.10.2009
Автори: Білинський Йосип Йосипович, Кухарчук Василь Васильович, Білинський Володимир Йосипович
Формула / Реферат
Пристрій для вимірювання малих переміщень містить освітлювач, об'єктив, оптичний вихід якого пов'язаний з фотолінійкою, обчислювальний пристрій, вхід якого пов'язаний з виходом фотолінійки, який відрізняється тим, що в нього введено рейку зі щілиною, на якій жорстко закріплений освітлювач і об'єктив, а оптичний вхід щілини пов'язаний з освітлювачем, вихід - з об'єктивом, блок керування, вихід якого електрично пов'язаний з входом фотолінійки.
Текст
Пристрій для вимірювання малих переміщень містить освітлювач, об'єктив, оптичний вихід якого пов'язаний з фотолінійкою, обчислювальний пристрій, вхід якого пов'язаний з виходом фотолінійки, який відрізняється тим, що в нього введено рейку зі щілиною, на якій жорстко закріплений освітлювач і об'єктив, а оптичний вхід щілини пов'язаний з освітлювачем, вихід - з об'єктивом, блок керування, вихід якого електрично пов'язаний з входом фотолінійки. (19) (21) u200905591 (22) 01.06.2009 (24) 26.10.2009 (46) 26.10.2009, Бюл.№ 20, 2009 р. (72) КУХАРЧУК ВАСИЛЬ ВАСИЛЬОВИЧ, БІЛИНСЬКИЙ ЙОСИП ЙОСИПОВИЧ, БІЛИНСЬКИЙ ВОЛОДИМИР ЙОСИПОВИЧ (73) ВІННИЦЬКИЙ НАЦІОНАЛЬНИЙ ТЕХНІЧНИЙ УНІВЕРСИТЕТ 3 45156 4 ì æ s ö ï s2d ± d2s 4 + æ s2 - s2 ös2 × ç d2 + 2s2 ln 2 ÷ 1 s ÷ 1 1 ç 2 1÷ 1 ç è ø ï 1ø è ïs1 2 = , 2 - s2 ö æs ï ç 2 1÷ ï è ø ï (Imax - Imin )b × d í s1 = ï DI1 2p ï (Imax - Imin )b × d ï s2 = ï DI2 2p ï d = N× d - l ×k ï î де s1 та s2 - ступінь розмитості правого і лівого краю щілини; d - величина зсуву в міжпікселному просторі відносно одного із країв щілини; Imin - максимальне значення перепаду інтенсивності; Imax - мінімальне значення перепаду інтенсивності; b - коефіцієнт пропорційності; ∆I1, ∆I2 - максимальна зміна інтенсивності в околі краю щілини правого і лівого краю щілини відповідно; Комп’ютерна верстка В. Мацело l - ширина щілини; k - коефіцієнт оптичного збільшення; d - крок дискретизації фото лінійки. N - кількість засвічених фотоелементів щілиною. Перевагами пристрою є висока точність вимірювання величини малих переміщень, зручність експлуатації. В результаті вимірювань і попередньої обробки величина абсолютної похибки складає менше 2,5мкм при коефіцієнті оптичного збільшення k=0,35. Підписне Тираж 28 прим. Міністерство освіти і науки України Державний департамент інтелектуальної власності, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601
ДивитисяДодаткова інформація
Назва патенту англійськоюDevice for measurement of small displacements
Автори англійськоюKukharchuk Vasyl Vasyliovych, Bilynsky Yosyp Yosypovych, Bilynskyi Volodymyr Yosypovych
Назва патенту російськоюУстройство для измерения малых перемещений
Автори російськоюКухарчук Василий Васильевич, Билинский Иосиф Иосифович, Билынский Владимир Иосифович
МПК / Мітки
МПК: G01B 11/16
Мітки: малих, пристрій, переміщень, вимірювання
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/2-45156-pristrijj-dlya-vimiryuvannya-malikh-peremishhen.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Пристрій для вимірювання малих переміщень</a>
Попередній патент: Спосіб безперервної прокатки штаб
Наступний патент: Фільтр магнітного очищення та обробки автомобільного палива
Випадковий патент: Спосіб хімічного чорніння гальванопокриттів з цинкових сплавів